| 講演名 | 2000/10/26 反射型液晶評価の従来法と二次元CCDを使った視野角特性評価法 村野 健治, 川口 晃, 船戸 正好, 依田 優治, |
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| 抄録(和) | 反射型液晶の反射率、コントラスト比などの光学特性を測定・評価する上で、どのような照明条件下で光学特性を測定するかについて、いくつかの方式が提案されている。ここでは、平行光照射、あらゆる方向からの拡散光照射、少し距離を離した位置からの拡散光照射および環状照射の4つの方法で反射型液晶を照射した場合の反射率、コントラスト比のデータを紹介し、それぞれの方法で得られるデータの特徴について紹介する。また、反射率、コントラスト比の視野角特性を高速に測定できる光学系についても測定データと共に簡単に紹介する。 |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | 反射型液晶 / 光学特性評価 / 平行光照射 / 拡散光照射 / 環状照射 / 視野角評価 / CCD |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | EID2000-208 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID |
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| 開催期間 | 2000/10/26(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 反射型液晶評価の従来法と二次元CCDを使った視野角特性評価法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 反射型液晶 |
| キーワード(2)（和/英） | 光学特性評価 |
| キーワード(3)（和/英） | 平行光照射 |
| キーワード(4)（和/英） | 拡散光照射 |
| キーワード(5)（和/英） | 環状照射 |
| キーワード(6)（和/英） | 視野角評価 |
| キーワード(7)（和/英） | CCD |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 村野 健治 |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大塚電子株式会社 |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 川口 晃 |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大塚電子株式会社 |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 船戸 正好 |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 大塚電子株式会社 |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 依田 優治 |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 大塚電子株式会社 |
| 発表年月日 | 2000/10/26 |
| 資料番号 | EID2000-208 |
| 巻番号（vol） | vol.100 |
| 号番号（no） | 404 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |