講演名 2000/10/13
Low temperature poly-Si TFT with metal induced crystallization of amorphous silicon at 440℃
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抄録(和)
抄録(英) Amorphous Silicon(a-Si)films were deposited by PECVD and then crystallized by metal induced crystallization(MIC)at various temperatures. The crystallization temperature was reduced to as low as 440℃. The Ni-MIC pSi thin films were characterized by XRD, SEM and XPS. The depth profiles of structure and chemical components of the films were analyzed, and the crystallization mechanism was discussed. The poly-Si TFT was fabricated using Ni-MIC.
キーワード(和)
キーワード(英) Metal Induced crystallization / (MIC) / p-Si / annealing
資料番号 EID2000-138
発行日

研究会情報
研究会 EID
開催期間 2000/10/13(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electronic Information Displays (EID)
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Low temperature poly-Si TFT with metal induced crystallization of amorphous silicon at 440℃
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / Metal Induced crystallization
第 1 著者 氏名(和/英) / Chuanzhen Liu
第 1 著者 所属(和/英)
North LCD R&D Center, Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics Chinese Academy of Sciences
発表年月日 2000/10/13
資料番号 EID2000-138
巻番号(vol) vol.100
号番号(no) 356
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日