講演名 2000/10/13
Al-based Electrodes for Large Size and High Resolution TFT AM-LCDs
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抄録(和)
抄録(英) The signal deformation due to RC(Resistivity -Capacitance)delay is simulated for high-information-content displays based on a simplified equivalent circuit model. The electrode resistivity requirement for large size and high resolution TFT AM-LCDs is scaled. Al-based metal films such as Al-Ta and Al-Cr alloys as well as Al-Mo clay are deposited by magnetron sputtering. As-deposited films are annealed in Vacuum at 400℃ to examine their thermal stability. The samples are characterized with SEM and Four-Probe measurement. The optimum sputtering conditions are obtained.
キーワード(和)
キーワード(英) TFT / Liquid crystal display / Signal delay / RC / Al
資料番号 EID2000-120
発行日

研究会情報
研究会 EID
開催期間 2000/10/13(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electronic Information Displays (EID)
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Al-based Electrodes for Large Size and High Resolution TFT AM-LCDs
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / TFT
第 1 著者 氏名(和/英) / Muju LI
第 1 著者 所属(和/英)
Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences.
発表年月日 2000/10/13
資料番号 EID2000-120
巻番号(vol) vol.100
号番号(no) 356
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日