講演名 | 2000/10/13 Al-based Electrodes for Large Size and High Resolution TFT AM-LCDs , |
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抄録(和) | |
抄録(英) | The signal deformation due to RC(Resistivity -Capacitance)delay is simulated for high-information-content displays based on a simplified equivalent circuit model. The electrode resistivity requirement for large size and high resolution TFT AM-LCDs is scaled. Al-based metal films such as Al-Ta and Al-Cr alloys as well as Al-Mo clay are deposited by magnetron sputtering. As-deposited films are annealed in Vacuum at 400℃ to examine their thermal stability. The samples are characterized with SEM and Four-Probe measurement. The optimum sputtering conditions are obtained. |
キーワード(和) | |
キーワード(英) | TFT / Liquid crystal display / Signal delay / RC / Al |
資料番号 | EID2000-120 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | EID |
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開催期間 | 2000/10/13(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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本文の言語 | ENG |
タイトル(和) | |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Al-based Electrodes for Large Size and High Resolution TFT AM-LCDs |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | / TFT |
第 1 著者 氏名(和/英) | / Muju LI |
第 1 著者 所属(和/英) | Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences. |
発表年月日 | 2000/10/13 |
資料番号 | EID2000-120 |
巻番号(vol) | vol.100 |
号番号(no) | 356 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |