講演名 2000/10/13
Thin PDP Packaging Technology in Low Temperature and Emission Characteristics
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抄録(和)
抄録(英) In this work, we have developed a new tubeless packaging technology using an indirect glass-to-glass electrostatic bonding with an intermediate amorphous silicon layer for the application to a plasma display panel(PDP)package. The glass-to-glass bonding for the packaging was performed at low temperature of 200°C with applying bias of 250V_dc in three species mixing gases environment of He-Ne(27%)-Xe(3%). The 3.6-inch mono AC-PDP with 8mm thickness was successfully fabricated and fully emitted. To investigate the application capability of glass bonding technology, the hermetic sealing test of the packaged panel was examined by spinning rotor gauge(SRG) for time variation.
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 EID2000-114
発行日

研究会情報
研究会 EID
開催期間 2000/10/13(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electronic Information Displays (EID)
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Thin PDP Packaging Technology in Low Temperature and Emission Characteristics
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) / Duck-Jung Lee
第 1 著者 所属(和/英)
Korea Institute of Science and Technology
発表年月日 2000/10/13
資料番号 EID2000-114
巻番号(vol) vol.100
号番号(no) 356
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日