講演名 | 2000/10/13 Electron Emission from MgO Thin Films by Slow lons , |
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抄録(和) | |
抄録(英) | We measured the energy distribution of ion-induced secondary electrons with a cylindrical mirror analyzer(CMA). Also the surface electronic structure is measured by the electron loss spectroscopy (EELS). There is no particular structure in the band gap of the MgO thin film and the gap is 6 eV approximately. However the highest energy of the secondary electrons is higher than the expected value by the conventional theory. |
キーワード(和) | |
キーワード(英) | MgO / Secondary Electron Emission / γ / Energy distribution / Protecting Layer / Surface / Analysis |
資料番号 | EID2000-112 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | EID |
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開催期間 | 2000/10/13(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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本文の言語 | ENG |
タイトル(和) | |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Electron Emission from MgO Thin Films by Slow lons |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | / MgO |
第 1 著者 氏名(和/英) | / Manabu Ishimoto |
第 1 著者 所属(和/英) | Laboratory for Atomic and Surface Physics, Engineering Physics, University of Virginia:Fujitsu Laborato ries Ltcl. |
発表年月日 | 2000/10/13 |
資料番号 | EID2000-112 |
巻番号(vol) | vol.100 |
号番号(no) | 356 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 4 |
発行日 |