講演名 2000/10/13
Electron Emission from MgO Thin Films by Slow lons
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抄録(和)
抄録(英) We measured the energy distribution of ion-induced secondary electrons with a cylindrical mirror analyzer(CMA). Also the surface electronic structure is measured by the electron loss spectroscopy (EELS). There is no particular structure in the band gap of the MgO thin film and the gap is 6 eV approximately. However the highest energy of the secondary electrons is higher than the expected value by the conventional theory.
キーワード(和)
キーワード(英) MgO / Secondary Electron Emission / γ / Energy distribution / Protecting Layer / Surface / Analysis
資料番号 EID2000-112
発行日

研究会情報
研究会 EID
開催期間 2000/10/13(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electronic Information Displays (EID)
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Electron Emission from MgO Thin Films by Slow lons
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / MgO
第 1 著者 氏名(和/英) / Manabu Ishimoto
第 1 著者 所属(和/英)
Laboratory for Atomic and Surface Physics, Engineering Physics, University of Virginia:Fujitsu Laborato ries Ltcl.
発表年月日 2000/10/13
資料番号 EID2000-112
巻番号(vol) vol.100
号番号(no) 356
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日