| 講演名 | 2000/6/30 EID2000-29 PDP用青色蛍光体を目指したEu^<2+>付活アルミン酸塩の作製と評価 吉松 良, 國本 崇, Daud Alias, 大観 光徳, 田中 省作, 小林 洋志, 岩瀬 信博, 福田 晋也, 鬼丸 俊昭, |
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| 抄録(和) | プラズマディスプレイ(PDP)用青色蛍光体であるBaMgAl_<10>O_<17>:Eu^<2+>(BAM:Eu^<2+>)に代わる、新しいPDP用青色蛍光体を目指してCaAl_2O_4:Eu^<2+>(CA:Eu^<2+>)の作製と評価を行った。CA:Eu^<2+>のEu付活濃度の最適化を図り、発光特性の改善を行った。試作パネルを作製して発光特性や駆動劣化特性の評価を行った。CA:Eu^<2+>の最適なEu付括濃度は2mol%であり、147nm励起でのPLピーク強度はBAM:Eu^<2+>の約60%を示した。CA:Eu^<2+>パネルの輝度はBAM:Eu^<2+>パネルの約41%となった。駆動劣化はBAM:Eu^<2+>に対して大きく、300時間経過後の強度は所期強度の40%を下回った。 |
| 抄録(英) | A blue emitting CaAl_2O_4:Eu^<2+>(CA:Eu^<2+>)phosphor was examined for PDP application. To improve the luminescent intensity the optimization of Eu concentration in CA was examined. Test PDP panels using synthesized CA:Eu^<2+> and commercial BaMgAl_<10>O_<17>:Eu^<2+>(BAM:Eu^<2+>)were fabricated by conventional process and their luminescent and driving properties were characterized. CA:Eu^<2+> with 2 mol% optimized Eu concentration shows 60 % PL peak intensity of BAM:Eu^<2+> under 147 nm excitation. The luminance of CA:Eu^<2+> test panel is 41 % of that of BAM:Eu^<2+>. This panel shows the poor luminance maintenance during the panel operation compared with BAM:Eu^<2+> panel and the emission intensity after 300 hours driving is decreased to 40 % of initial intensity. |
| キーワード(和) | PDP蛍光体 / CaAl_2O_4:Eu^<2+> / Eu付活濃度 / 駆動劣化 / 真空紫外線 |
| キーワード(英) | PDP phosphor / CaAl_2O_4:Eu^<2+> / Eu concentration / luminance degradation / VUV |
| 資料番号 | EID2000-29 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID |
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| 開催期間 | 2000/6/30(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | EID2000-29 PDP用青色蛍光体を目指したEu^<2+>付活アルミン酸塩の作製と評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Preparation and characterization of Eu^<2+> activated aluminate for blue PDP phosphor use |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | PDP蛍光体 / PDP phosphor |
| キーワード(2)（和/英） | CaAl_2O_4:Eu^<2+> / CaAl_2O_4:Eu^<2+> |
| キーワード(3)（和/英） | Eu付活濃度 / Eu concentration |
| キーワード(4)（和/英） | 駆動劣化 / luminance degradation |
| キーワード(5)（和/英） | 真空紫外線 / VUV |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 吉松 良 / Ryo Yoshimatsu |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部電気電子工学科 Dept.of Electrical and Electronic Eng.Tottori Univ. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 國本 崇 / Takashi Kunimoto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部電気電子工学科 Dept.of Electrical and Electronic Eng.Tottori Univ. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | Daud Alias / Alias Daud |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部電気電子工学科 Dept.of Electrical and Electronic Eng.Tottori Univ. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 大観 光徳 / Koutoku Ohmi |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部電気電子工学科 Dept.of Electrical and Electronic Eng.Tottori Univ. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 田中 省作 / Shosaku Tanaka |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部電気電子工学科 Dept.of Electrical and Electronic Eng.Tottori Univ. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 小林 洋志 / Hiroshi Kobayashi |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部電気電子工学科 Dept.of Electrical and Electronic Eng.Tottori Univ. |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 岩瀬 信博 / Nobuhiro Iwase |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 富士通日立プラズマディスプレイ Fujitsu Hitachi Plasma Display |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 福田 晋也 / Shin'ya Fukuta |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 富士通研究所 Fujitsu Laboratories |
| 第 9 著者 氏名（和/英） | 鬼丸 俊昭 / Toshiaki Onimaru |
| 第 9 著者 所属（和/英） | 富士通研究所 Fujitsu Laboratories |
| 発表年月日 | 2000/6/30 |
| 資料番号 | EID2000-29 |
| 巻番号（vol） | vol.100 |
| 号番号（no） | 168 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |