講演名 1999/3/19
A BCE-type α-Si TFT with an Island Metal Masking Structure
,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和)
抄録(英) A new back channel etched hydrogenated thin film transistor (TFT) device with an island metal masking structure has been proposed and fabricated. The TFT structure contained a continue layer deposition process of SiNx/a-Si/n+a-Si/Metal, and finally resulted in an additional metal layer between source/drain metals and island. The channel metal was etched in the S/D metal mask patterning simultaneously. Results showed the newly designed TFT device exhibiting some characteristics: (i) good S/D metal/n+a-Si contact; (ii) prevention of plasma damage during processing especially for oxygen plasma ashing and (iii) without additional mask. These advantages will be helpful for a wider range of process window in large area mass production a-Si TFT fabrications.
キーワード(和)
キーワード(英) thin film tranasistor (TFT) / island metal masking / plasma damage
資料番号 EID98-253
発行日

研究会情報
研究会 EID
開催期間 1999/3/19(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electronic Information Displays (EID)
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) A BCE-type α-Si TFT with an Island Metal Masking Structure
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / thin film tranasistor (TFT)
第 1 著者 氏名(和/英) / J. H. Chen
第 1 著者 所属(和/英)
Electronics Research and Service Organization, Industrial Technology Research Institute
発表年月日 1999/3/19
資料番号 EID98-253
巻番号(vol) vol.98
号番号(no) 666
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日