講演名 1999/3/19
Novel Method for CRT Display ITC Measurement
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抄録(和)
抄録(英) Windowing environment of computing systems is driving the displays larger and the demand for CRT display convergence and purity tighter. Advent of flat panel displays is also driving the CRT display toward smaller depths, hence much larger deflection angles. These two factors made ITC much tougher than before. At 17" and above, number of measurement points on the screen needed for ITC is expanding beyond simple 9 or 25 points. Legacy one camera per data point approach is quickly running out of steam, not to mention the prohibitive cost of such systems. Clearly, a better solution is needed.
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 EID98-246
発行日

研究会情報
研究会 EID
開催期間 1999/3/19(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electronic Information Displays (EID)
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Novel Method for CRT Display ITC Measurement
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) / Charles Chuang
第 1 著者 所属(和/英)
Dyan Color Inc.
発表年月日 1999/3/19
資料番号 EID98-246
巻番号(vol) vol.98
号番号(no) 666
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日