| 講演名 | 1999/3/19 高精細CRTにおけるラスタモアレ低減のためのビームプロファイルの検討 小野澤 幸男, 御子柴 茂生, 白井 正司, 奥 健太郎, 尾下 一浄, 澤畑 正人, |
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| 抄録(和) | 高精細CRTに発生するラスタモアレを低減するために、ガウス関数重みづけ法を用いて視認されるモアレパターンをシミュレートする技法を開発した。モアレパターンは、ビームプロファイル形状の影響を強く受ける。この技法を用いることで、さまざまなモードに対する最適なビームプロファイルの追求が可能となる。一般にガウス分布はラスタモアレを低減する最適な電子密度分布であると言われているが、本論文で、ガウス分布をわずかに変形させたプロファイルが視認されない程度までモアレコントラストを低減できることが分かった。これにより、ラスタモアレを低減するCRTの電子銃を設計することができる。 |
| 抄録(英) | In order to reduce the raster moire fringes appearing in high-resolution CRTs, an evaluation technique is developed which simulates visual appearances of the moire patterns by using a Gaussian weighting method. It has been found that the moire patterns are strongly influenced by a shape of an electron beam profile. By using the evaluation technique, optimum electron beam profiles for various moire modes are pursued. Although the common belief is that the Gaussian current density distribution is the best for the beam profile which gives least moire fringes, it is found that an introduction of a small deviation to the Gaussian distribution reduces the moire contrast to an appreciable extent. This enables us to design CRT electron guns which have an improved moire characteristic. |
| キーワード(和) | ラスタモアレ / モアレモード / ビームプロファイル / ガウス関数重みづけ法 |
| キーワード(英) | raster moire / moire mode / beam profile / Gaussian weighting method |
| 資料番号 | EID98-237 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID |
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| 開催期間 | 1999/3/19(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | 高精細CRTにおけるラスタモアレ低減のためのビームプロファイルの検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Shaping of an Electron Beam in High-Resolution CRTs for Reduction of Moire Fringes |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ラスタモアレ / raster moire |
| キーワード(2)（和/英） | モアレモード / moire mode |
| キーワード(3)（和/英） | ビームプロファイル / beam profile |
| キーワード(4)（和/英） | ガウス関数重みづけ法 / Gaussian weighting method |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小野澤 幸男 / S. Onozawa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 電気通信大学電子工学科 Department of Electrical Engineering, The University of Electro-Communications |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 御子柴 茂生 / S. Mikoshiba |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 電気通信大学電子工学科 Department of Electrical Engineering, The University of Electro-Communications |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 白井 正司 / S. Shirai |
| 第 3 著者 所属（和/英） | (株)日立製作所電子デバイス事業部 Electron Tube & Devices Division, Hitachi, Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 奥 健太郎 / K. Oku |
| 第 4 著者 所属（和/英） | (株)日立製作所電子デバイス事業部 Electron Tube & Devices Division, Hitachi, Ltd. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 尾下 一浄 / K. Oshita |
| 第 5 著者 所属（和/英） | (株)日立製作所電子デバイス事業部 Electron Tube & Devices Division, Hitachi, Ltd. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 澤畑 正人 / M. Sawahata |
| 第 6 著者 所属（和/英） | (株)日立製作所電子デバイス事業部 Electron Tube & Devices Division, Hitachi, Ltd. |
| 発表年月日 | 1999/3/19 |
| 資料番号 | EID98-237 |
| 巻番号（vol） | vol.98 |
| 号番号（no） | 666 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |