講演名 | 1999/1/21 DC型PDPにおけるY_2O_3陰極の動作機構と特性改善 後沢 瑞芳, 高野 善道, |
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抄録(和) | 絶縁物であるY_2O_3が、DC型PDPの陰極として働くには、何らかの導電機構が必要である。今回、動作機構の解明の一環としてこの導電機構を解明するためにY_2O_3膜の特性評価と放電前後での特性の変化を調べた。その結果、高温の工程でY_2O_3中に形成されるクラックから、エージングにより下地電極のAlがスパッタされ、これがY_2O_3表面を極薄く覆うことにより、導電路が形成されることがわかった。同時にこのスパッタにより短寿命となる。Niを下地電極として用いるとより細かいクラックを作ることができる。これにより、Al電極より、長寿命な陰極を形成できる。 |
抄録(英) | Conduction mechanism is necessary so that Y_2O_3 which is an insulator may work as a cathode of DC-PDP. In order to clarify the mechanism thin film Y_2O_3/Al structure cathodes are examined. As the result, it seemed to prove the fact next. Many cracks are formed in Y_2O_3 by the high-temperature process. From the crack, Al cathode bus line is sputtered in aging. The Y_2O_3 surface is covered thinly with this Al and a conduction path is formed. In the meantime, the crack causes the sputter of the cathode bus line, and it becomes a short life. When Ni is used as a cathode bus line there are the smaller cracks in Y_2O_3 films and the cathode has a longer life than Al. |
キーワード(和) | PDP / 陰極 / Y_2O_3 / 導電機構 |
キーワード(英) | PDP / cathode / Y_2O_3 / conduction mechanism |
資料番号 | EID98-103 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | EID |
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開催期間 | 1999/1/21(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | DC型PDPにおけるY_2O_3陰極の動作機構と特性改善 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Mechanism and improvement of Y_2O_3 cathode in DC-PDP |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | PDP / PDP |
キーワード(2)(和/英) | 陰極 / cathode |
キーワード(3)(和/英) | Y_2O_3 / Y_2O_3 |
キーワード(4)(和/英) | 導電機構 / conduction mechanism |
第 1 著者 氏名(和/英) | 後沢 瑞芳 / Mizumoto USHIROZAWA |
第 1 著者 所属(和/英) | NHK放送技術研究所 表示・光デバイス NHK Science and Technical Research Laboratories, Display and Optical Devices |
第 2 著者 氏名(和/英) | 高野 善道 / Yoshimichi TAKANO |
第 2 著者 所属(和/英) | NHK放送技術研究所 表示・光デバイス NHK Science and Technical Research Laboratories, Display and Optical Devices |
発表年月日 | 1999/1/21 |
資料番号 | EID98-103 |
巻番号(vol) | vol.98 |
号番号(no) | 549 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |