| 講演名 | 1998/6/26 顕微分光法によるAC PDP放電セルの励起原子密度測定 田中 毅, 伊藤 考治郎, 長坂 英喜, 坂井 徹男, 馮 少軍, 橘 邦英, |
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| 抄録(和) | AC平面型PDPセルの微小放電空間内におけるXe準安定準位(1s_5)の相対原子密度を、顕微分光法により測定した。今回は維持放電のみを対象とした結果、(1)陰極側だけでなく陽極側の密度も同程度に大きくなる, (2)中央部は電極側の約1/3ぐらいになる, (3)立ち上がり時間は0.2μsec, 減衰時定数は陰極側で3μsec, 陽極側で1.8μsecであり、計算値3.1μsecとほぼ一致する, (4)AC PDPも維持放電でパルスメモリー的な動作をしている, ことが分かった。 |
| 抄録(英) | Xe metastable atom densities in an AC PDP cell are measured in the sustain mode by laser spectro-microscopy. It has been found that : (1) The peak density at the cathode side is nearly equal to the density at the anode side, (2) The density at the center is about 1/3 of the value at the cathode side, (3) The rise time of the density is 0.2μs with a delay of about 0.2～0.3μs. The decay time is 3μs at cathode side, and 1.8μs at anode side, respectively, which agree with an estimated value of 3.1μs, (4) In the sustain mode AC PDP operates with pulse memory function like as DC PDP. |
| キーワード(和) | AC PDP / 発光効率 / キセノン準安定原子密度 / 顕微分光法 / 時間空間分解測定 |
| キーワード(英) | AC PDP / High efficiency / Xe metastable density / Spectro-microscopy / Spatio-temporal measurement |
| 資料番号 | EID98-24 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID |
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| 開催期間 | 1998/6/26(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 顕微分光法によるAC PDP放電セルの励起原子密度測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Excited atoms density measurements in a discharge cell of AC PDP by using microscopic-spectroscopy |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | AC PDP / AC PDP |
| キーワード(2)（和/英） | 発光効率 / High efficiency |
| キーワード(3)（和/英） | キセノン準安定原子密度 / Xe metastable density |
| キーワード(4)（和/英） | 顕微分光法 / Spectro-microscopy |
| キーワード(5)（和/英） | 時間空間分解測定 / Spatio-temporal measurement |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 田中 毅 / T. Tanaka |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 現代電子産業ジャパン(株)東京技術研究所(PDP研究所) Hyundai Electronics Japan Co., Let. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 伊藤 考治郎 / K Ito |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 現代電子産業ジャパン(株)東京技術研究所(PDP研究所) Hyundai Electronics Japan Co., Let. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 長坂 英喜 / E. Nagasaka |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 現代電子産業ジャパン(株)東京技術研究所(PDP研究所) Hyundai Electronics Japan Co., Let. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 坂井 徹男 / T Sakai |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 現代電子産業ジャパン(株)東京技術研究所(PDP研究所) Hyundai Electronics Japan Co., Let. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 馮 少軍 / S. Feng |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 京都大学工学研究科 Dept. of Electronics Science and Engineering, Kyoto University |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 橘 邦英 / T Tachibana |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 京都大学工学研究科 Dept. of Electronics Science and Engineering, Kyoto University |
| 発表年月日 | 1998/6/26 |
| 資料番号 | EID98-24 |
| 巻番号（vol） | vol.98 |
| 号番号（no） | 152 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |