講演名 | 1994/2/18 大面積液晶ディスプレイ用自己修復型Poly-SiTFT走査回路 浅田 秀樹, 葉山 浩, 斉藤 毅, 世良 賢二, 奥村 藤男, |
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抄録(和) | 大面積液晶ディスプレイ用走査回路の高歩度まり化を目指した自己修復型poly-SiTFT走査回路を開発した。本回路は、レギュラー回路、スペア回路、誤り訂正回路、および出力バッファ回路で構成される。回路内にショート・オープン欠陥が発生した場合においても回路は自動的に欠陥を回避し正常に動作すること、および従来回路よりも高速であることを実証した。また、HDTV対応の1035段走査回路を想定した歩度まりシミュレーションより、従来に比べて歩度まりが2~6倍向上することを示した。 |
抄録(英) | A polysilicon thin-film transistor scanning circuit,immune to both open and short defects without circuit repait,has been developed for large-area active matrix liquid crystal displays.The scanner consists of regular and spare delay circuits, errorcorrecting circuits,transfer switches,exchange switches,and output buffers.The error correction does not impair circuit speed. Predicted yield of a 1035-stage scanning circuit is increased two- to six-fold. |
キーワード(和) | 薄膜回路 / 周辺駆動回路 / 多結晶シリコン / 冗長 / フォールトトレランス / 液晶 ディスプレイ |
キーワード(英) | thin film driver / poly-Si / redundancy / fault-tolerance / TFT-LCD |
資料番号 | EID93-135,ED93-189,SDM93-212 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | EID |
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開催期間 | 1994/2/18(から1日開催) |
開催地(和) | |
開催地(英) | |
テーマ(和) | |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 大面積液晶ディスプレイ用自己修復型Poly-SiTFT走査回路 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | A Poly-si TFT Defect-Tolerant Scanner for Large-Area AMLCDs |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 薄膜回路 / thin film driver |
キーワード(2)(和/英) | 周辺駆動回路 / poly-Si |
キーワード(3)(和/英) | 多結晶シリコン / redundancy |
キーワード(4)(和/英) | 冗長 / fault-tolerance |
キーワード(5)(和/英) | フォールトトレランス / TFT-LCD |
キーワード(6)(和/英) | 液晶 ディスプレイ |
第 1 著者 氏名(和/英) | 浅田 秀樹 / Hideki Asada |
第 1 著者 所属(和/英) | ジーティシー GTC |
第 2 著者 氏名(和/英) | 葉山 浩 / Hiroshi Hayama |
第 2 著者 所属(和/英) | ジーティシー GTC |
第 3 著者 氏名(和/英) | 斉藤 毅 / Takeshi Saito |
第 3 著者 所属(和/英) | ジーティシー GTC |
第 4 著者 氏名(和/英) | 世良 賢二 / Kenji Sera |
第 4 著者 所属(和/英) | 日本電気 NEC |
第 5 著者 氏名(和/英) | 奥村 藤男 / Fujio Okumura |
第 5 著者 所属(和/英) | 日本電気 NEC |
発表年月日 | 1994/2/18 |
資料番号 | EID93-135,ED93-189,SDM93-212 |
巻番号(vol) | vol.93 |
号番号(no) | 471 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |