| 講演名 | 1993/7/9 1993 SID国際シンポジウム報告 : LCD[2] 視野角改善、評価およびパネルテスト 高橋 暢生, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 1993SID国際シンポジウム(SID'93)にて発表された講演のうち、LCDの視野角改善、視野角測定およびTFTパネルの評価に関するものをまとめて報告する.各々の件数は視野角改善が6件(19.1～4,P-49,P-58)、視野角評価が5件(12.4,P-31,P-51,P-55)、パネル評価が4件(17.1～4)であった.視野角改善には光学補償板の利用が目立ち、TNを用いたものと新規な液晶モードを用いたものの2タイプがあった.視野角評価では視角特性を直観的にとらえられるようなグラフ作成法を提案するものが多かった.パネルテストはアプリケーションセッションであり、主にインラインに適用してTFTパネルのコスト削減、歩留まり向上を目的としたものが紹介された. |
| 抄録(英) | Presentations about LCD viewing-angle improvements,evaluations, and TFT-panel testings in 1993 SID international symposium are reviewed.Number of papers about these topics is 6(19.1-4,P-49,P- 58),5(12.4,P-31,P-32,P-51,P-55),and 4(17.1-4),respectively.In viewing-angle improvements,modified TN mode and novel LC mode are reported,and optical compensation films are mainly applied in these cases.In viewing-angle evaluations,several graphic visualization methods are proposed to allow intuitive observation. In TFT-panel testings,some in-line panel testing systems designed for lower cost and higher yield of TFT panel are presented. |
| キーワード(和) | 液晶ディスプレイ / TFT-LCD / 視野角改善 / 視野角評価 / TFTパネルテスト / SID'93 |
| キーワード(英) | Liquid-crystal display / TFT-LCD / Viewing-angle improvement / Viewing-angle evaluation / TFT-panel testing / SID′93 |
| 資料番号 | EID93-22 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID |
|---|---|
| 開催期間 | 1993/7/9(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 1993 SID国際シンポジウム報告 : LCD[2] 視野角改善、評価およびパネルテスト |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Report on 1993 SID International Symposium LCD[2] Viewing-Angle Improvement,Evaluation,and TFT-Panel Testing |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 液晶ディスプレイ / Liquid-crystal display |
| キーワード(2)（和/英） | TFT-LCD / TFT-LCD |
| キーワード(3)（和/英） | 視野角改善 / Viewing-angle improvement |
| キーワード(4)（和/英） | 視野角評価 / Viewing-angle evaluation |
| キーワード(5)（和/英） | TFTパネルテスト / TFT-panel testing |
| キーワード(6)（和/英） | SID'93 / SID′93 |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 高橋 暢生 / Nobuo Takahashi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NEC機能エレクトロニクス研究所 Functional Devices Research Laboratories,NEC Corp |
| 発表年月日 | 1993/7/9 |
| 資料番号 | EID93-22 |
| 巻番号（vol） | vol.93 |
| 号番号（no） | 135 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |