| 講演名 | 1993/6/25 ZnS:TbF_3薄膜ELの膜質評価 西窪 敏貴, 森 敏和, 内池 平樹, |
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| 抄録(和) | 今回の研究では、ZnS:TbF_3発光層を電子顕微鏡観察、及び、X線回折し、蒸着膜形成過程の評価及び、発光中心TbF_3の膜質への影響を考察した。また、ドーピング母体として使用されるTbF_3の構造を調べ考察した。その結果、TEM像観察により、ZnS:TbF_3膜の膜成長を視覚的に確認し、これとX線回折から、Tbが膜質を劣化させていることが分かり白、また、TbF_3の構造を調べた結果TbF_3は斜方晶系結晶でYF_3型構造をしていることが分かった。 |
| 抄録(英) | ZnS:TbF_3 thin films were observed using TEM and X-ray diffraction.Strcture of TbF_3 was investigated.Accordingly the following results are obtained,(1) Tb atoms or particles disturb the formation of recrystalization of ZnS film.(2)The structure of TbF_3 belongs to YF_3 type orthorhombic system. |
| キーワード(和) | TEM / X線回析 / 斜方晶系結晶 |
| キーワード(英) | TEM / X-ray diffraction / Orthorhombic crystal |
| 資料番号 | EID93-10,IE93-26 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID |
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| 開催期間 | 1993/6/25(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ZnS:TbF_3薄膜ELの膜質評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of ZnS:TbF_3 thin film EL |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | TEM / TEM |
| キーワード(2)（和/英） | X線回析 / X-ray diffraction |
| キーワード(3)（和/英） | 斜方晶系結晶 / Orthorhombic crystal |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 西窪 敏貴 / Toshitaka Nishikubo |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 広島大学大学院工学研究科 Department of Engineering,Graduate School,Hiroshima University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 森 敏和 / Toshikazu Mori |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 広島大学大学院工学研究科 Department of Engineering,Graduate School,Hiroshima University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 内池 平樹 / Heiju Uchiike |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 広島大学工学部第II類 Department of Erectricity,Faculty of Engineering,Hiroshima University |
| 発表年月日 | 1993/6/25 |
| 資料番号 | EID93-10,IE93-26 |
| 巻番号（vol） | vol.93 |
| 号番号（no） | 108 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |