| 講演名 | 1995/6/22 アレイドピンホールカメラによる2次元イオンビーム計測 : 慣性核融合用大強度イオンビームの新評価法の開発 安池 和仁, 宮本 修治, 今崎 一夫, 中井 貞雄, |
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| 抄録(和) | 慣性核融合を目的とした大強度イオンビームの2次元発散角,強度の空間分布を時間分解して計測するため2次元アレイドピンホールカメラ(APC)を開発した。これにより従来,計算機シミュレーション等で予測され,実験的にはほとんど実証されていないビーム強度と発散角の相関,ダイオード内部の不安定性の成長によると考えられるビーム発散角の時間的増大等を観測し,イオンダイオード物理を解明していくことができる。2次元APCは,1次元のAPC[K.Yasuike,S.Miyamoto and S.Nakai,Review of Scientific Instruments,(to be published).]の拡張である。計測の対象となるビームは,磁場絶縁型イオンダイオードからの～1MeV,～10A/cm^2,パルス幅100ns,粒子種が主にプロトン(H^+)のアニュラービームである。APCはビームソース上20mmの範囲を15ns以下の時間分解能,発散角分解能10mrad程度で計測することができる。 |
| 抄録(英) | Two-dimensional temporally resolved beam diagnostic method for intense ion beams, intended for ion beam fusion, is developed. This is an extension of one-dimensional Arrayed Pinhole Camera (APC) with time integrated detector. [K.Yasuike, S.Miyamoto and S.Nakai, Review of Scientific Instruments, (to be published).] A two-dimensional correlation analysis of the arrayed images yields an intensity distribution and an angular two-dimensional distributions (beam divergence) of pulsed ion beam. A temporal resolution is obtained by using a gated micro channel plate (MCP) as a time resolved ion detector. Achieved spatial and angular resolutions are smaller than 1 mm and better than 20mrad, respectively. A temporal resolution is about 15ns that is determined by a width of the gating pulse and a MCP gain characteristic. This two-dimensional APC was successfully tested on a magnetically insulated pulsed ion diode, which generates an annular Proton [H^+] beam of energy 1MV, current density of ～10A/cm^2, pulse duration of 100 ns. The results show that the ion beams accelerated by the magnetically insulated diode have direction-dependent beam divergence. |
| キーワード(和) | アレイドピンホールカメラ / APC / 発散角 / イオンビーム / イオンダイオード |
| キーワード(英) | Arrayed Pinhole Camera / APC / Divergence / Ion beam / Ion diode |
| 資料番号 | |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID |
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| 開催期間 | 1995/6/22(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | アレイドピンホールカメラによる2次元イオンビーム計測 : 慣性核融合用大強度イオンビームの新評価法の開発 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Two-dimensional Beam Diagnostics method for Intense Ion Beams : Two-dimensional divergence distribution measuring method |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | アレイドピンホールカメラ / Arrayed Pinhole Camera |
| キーワード(2)（和/英） | APC / APC |
| キーワード(3)（和/英） | 発散角 / Divergence |
| キーワード(4)（和/英） | イオンビーム / Ion beam |
| キーワード(5)（和/英） | イオンダイオード / Ion diode |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 安池 和仁 / Kazuhito Yasuike |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大阪大学レーザー核融合研究センター Institute of Laser Engineering, Osaka University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 宮本 修治 / Shuji Miyamoto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大阪大学レーザー核融合研究センター Institute of Laser Engineering, Osaka University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 今崎 一夫 / Kazuo Imasaki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | FEL研究所 Institute for Laser Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 中井 貞雄 / Sadao Nakai |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 大阪大学レーザー核融合研究センター Institute of Laser Engineering, Osaka University |
| 発表年月日 | 1995/6/22 |
| 資料番号 | |
| 巻番号（vol） | vol.95 |
| 号番号（no） | 114 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |