| 講演名 | 1998/5/14 測定距離変化放射パターン測定法の応用による複数反射波源の放射パターンへの影響量推定 西澤 一史, 佐藤 正人, 小西 善彦, 千葉 勇, 片木 孝至, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 筆者等は, 測定距離の変化により反射波を除去する放射パターン測定法の原理を適用して反射波源による放射パターンを導出し, 反射波源の位置および大きさを評価する方法について先に報告している.この方法では, 複数の反射波源が存在する場合, その個々の反射波を分離して評価することはできない.本報告では, 測定距離領域で窓関数を適用することで, フーリエスペクトルの低サイドローブ化を行い, さらに得られたフーリエスペクトルに角度毎のゲーティング処理を施すことで複数の反射波を分離し, 個々の反射波源による放射パターンを推定する方法を提案する.そして, 計算機シミュレーションの結果から本推定法の有効性を検証する. |
| 抄録(英) | Authors have reported a method of detecting positions of reflection sources by applying the modified far-field antenna radiation pattern measurement scheme. In this method, it is difficult to separate reflections from measured data and evaluate each reflection in the case that reflection sources exist. In this paper, we propose a new method of separating reflections and evaluating each one by supressing sidelobe of Fourier spectrums using a window function on distance and by using gating these spectrums at each angle. And the validity of this method is confirmed by a computer simulation. |
| キーワード(和) | 測定法 / 反射波源 / 逆フーリエ変換 / 窓関数 / ゲーティング / 放射パターン |
| キーワード(英) | Measurement method / Reflection source / Inverted Fourier transform / Window function / Gating / Radiation patterns |
| 資料番号 | |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | AP |
|---|---|
| 開催期間 | 1998/5/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Antennas and Propagation (A・P) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 測定距離変化放射パターン測定法の応用による複数反射波源の放射パターンへの影響量推定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of Errors in a Radiation Pattern Caused by Reflections Using the Distance Changing Technique |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 測定法 / Measurement method |
| キーワード(2)（和/英） | 反射波源 / Reflection source |
| キーワード(3)（和/英） | 逆フーリエ変換 / Inverted Fourier transform |
| キーワード(4)（和/英） | 窓関数 / Window function |
| キーワード(5)（和/英） | ゲーティング / Gating |
| キーワード(6)（和/英） | 放射パターン / Radiation patterns |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 西澤 一史 / Kazushi NISHIZAWA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社 Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 佐藤 正人 / Masahito SATO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社 Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 小西 善彦 / Yoshihiko KONISHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社 Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 千葉 勇 / Isamu CHIBA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社 Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 片木 孝至 / Takashi KATAGI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社 Mitsubishi Electric Corporation |
| 発表年月日 | 1998/5/14 |
| 資料番号 | |
| 巻番号（vol） | vol.98 |
| 号番号（no） | 46 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |