講演名 2002/1/17
半導体ハイメサ導波路における、高次漏洩モードの伝播の抑制とそのAWG特性の改善に及ぼす効果
神徳 正樹, 奥 哲, 門田 好晃, 広野 卓夫, 吉村 了行, 吉國 裕三,
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抄録(和) 光回路の小型化の為に、高い比屈折率差を有する導波路が用いられるようになっている。これらの導波路では、最小曲げ半径を小さくできる反面、高次の漏れモードが発生しやすく、良好な素子特性を実現するために高次モードの制御が不可欠である。本報告では、半導体ハイメサ導波路における、高次漏洩モードの伝播を抑制するための導波路パラメータの解析結果について報告するとともに、実験的に高次漏洩モードの伝播抑制を行い、半導体AWGの特性にどのような効果を及ぼすかについて検討を行い、分波特性を改善できたので報告する。
抄録(英) In lightwave circuit using strongly confined waveguide, rejection of higher-order leaky-mode is quite important to obtain ideal characteristics especially in arrayed waveguide gratings. In this paper, propagation loss of the higher order leaky-mode in the InP-based deep ridge waveguide is investigated in simulation and experimentally. The relation between the propagation loss of the higher order mode and crosstalk of AWG is discussed. By optimizing the deep-ridge waveguide parameter, especially core thickness, refractive index of the core, and etching depth under the core, the propagation loss of the higher-order leaky-mode can be drastically changed and effective elimination of higher-order mode enable us to fabricate low crosstalk AWG router.
キーワード(和) アレイ導波路格子(AWG) / 半導体導波路 / 高次モード / 伝播損
キーワード(英) Arrayed Waveguide Grating (AWG) / Semiconductor Waveguide / Higher-order mode / Propagation loss
資料番号 2001-PS-84,2001-OFT-81,2001-OPE-125,2001-LQE-111
発行日

研究会情報
研究会 LQE
開催期間 2002/1/17(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Lasers and Quantum Electronics (LQE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 半導体ハイメサ導波路における、高次漏洩モードの伝播の抑制とそのAWG特性の改善に及ぼす効果
サブタイトル(和)
タイトル(英) Reduction of higher-order leaky mode in the semiconductor deep ridge waveguide and its effect for improving AWG characteristics.
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) アレイ導波路格子(AWG) / Arrayed Waveguide Grating (AWG)
キーワード(2)(和/英) 半導体導波路 / Semiconductor Waveguide
キーワード(3)(和/英) 高次モード / Higher-order mode
キーワード(4)(和/英) 伝播損 / Propagation loss
第 1 著者 氏名(和/英) 神徳 正樹 / Masaki Kohtoku
第 1 著者 所属(和/英) NTTフォトニクス研究所
NTT photonics laboratories
第 2 著者 氏名(和/英) 奥 哲 / Satoshi Oku
第 2 著者 所属(和/英) NTTフォトニクス研究所
NTT photonics laboratories
第 3 著者 氏名(和/英) 門田 好晃 / Yoshiaki Kadota
第 3 著者 所属(和/英) NTTエレクトロニクス
NTT photonics laboratories
第 4 著者 氏名(和/英) 広野 卓夫 / Takuo Hirono
第 4 著者 所属(和/英) NTTフォトニクス研究所
NTT photonics laboratories
第 5 著者 氏名(和/英) 吉村 了行 / Ryoko Yoshimura
第 5 著者 所属(和/英) NTTフォトニクス研究所
NTT photonics laboratories
第 6 著者 氏名(和/英) 吉國 裕三 / Yuzo Yoshikuni
第 6 著者 所属(和/英) NTTフォトニクス研究所
NTT photonics laboratories
発表年月日 2002/1/17
資料番号 2001-PS-84,2001-OFT-81,2001-OPE-125,2001-LQE-111
巻番号(vol) vol.101
号番号(no) 592
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
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