| 講演名 | 2001/10/5 THz EOサンプリング法を用いた半導体の超高速キャリア速度評価 阿部 真理, / 島田 洋蔵, 平川 一彦, 冨澤 一隆, |
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| 抄録(和) | GaAs m-i-nダイオードのi層にフェムト秒レーザーパルスによってキャリアを励起し, それが内部電界によって加速されることによって放射する電磁波をEOサンプリング法により測定した.これによりキャリアの非平衡な伝導の様子を調べることが可能である.実験結果とモンテカルロ計算との比較により, サンプル構造が伝導に与える影響や, 高電界下における正孔の速度の寄与について議論した.また, 短いチャネルを有するサンプルの測定を行い, その速度波形から電子と正孔の走行時間を求めた. |
| 抄録(英) | Terahertz radiation emitted by photoexcited carriers in GaAs m-i-n diode by femtosecond laser pulse has been investigated by using electro-optic detection technique. Since amplitude of THz radiation is proportional to the acceleration of the carriers, the integrated traces of the time domain THz electric fields give the waveforms of carrier velocities. By comparing experimental results with Monte Carlo calculations, we discuss effect of finite sample thickness and contribution of electrons and holes. Furthermore, transient velocity of carriers in a short channel sample has been measured and transit time for electrons and holes has been determined successfully. |
| キーワード(和) | 時間分解テラヘルツ分光法 / EOサンプリング / 速度オーバーシュート / モンテカルロ計算 |
| キーワード(英) | Time-domain THz spectroscopy / Electro-optic sampling / velocity overshoot / Monte Carlo calculation |
| 資料番号 | LQE2001-66 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | LQE |
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| 開催期間 | 2001/10/5(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Lasers and Quantum Electronics (LQE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | THz EOサンプリング法を用いた半導体の超高速キャリア速度評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Investigation of high-speed carrier dynamics by using time-domain THz Spectroscopy |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 時間分解テラヘルツ分光法 / Time-domain THz spectroscopy |
| キーワード(2)（和/英） | EOサンプリング / Electro-optic sampling |
| キーワード(3)（和/英） | 速度オーバーシュート / velocity overshoot |
| キーワード(4)（和/英） | モンテカルロ計算 / Monte Carlo calculation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 阿部 真理 / Mari ABE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京大学生産技術研究所 Institute of Industrial Science, University of Tokyo |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | / 島田 洋蔵 / Madhavi SEETAMRAJU |
| 第 2 著者 所属（和/英） | CREST, 科学技術振興事業団 CREST, Japan Science and Technology Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 平川 一彦 / Yozo SHIMADA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京大学生産技術研究所 Institute of Industrial Science, University of Tokyo |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 冨澤 一隆 / Kazuhiko HIRAKAWA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東京大学生産技術研究所:CREST, 科学技術振興事業団 Institute of Industrial Science, University of Tokyo:CREST, Japan Science and Technology Corporation |
| 発表年月日 | 2001/10/5 |
| 資料番号 | LQE2001-66 |
| 巻番号（vol） | vol.101 |
| 号番号（no） | 346 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |