講演名 2000/6/30
OPE2000-36 / LQE2000-30 モード同期半導体レーザによる分周光クロック抽出の高安定化
橋本 陽一, 栗田 寿一, 小倉 一郎, 横山 弘之,
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抄録(和) モード同期半導体レーザ(MLLD)を用いた2段階の分周光クロック抽出により、位相の安定性に優れた分周光クロック抽出を実現した。本手法では、初段で、データ光の周波数と同一周波数のMLLDで光クロック抽出を行い、さらに次の段で、その光出力を分周周波数のMLLDに注入する構成をとる。この構成により、位相が安定した分周光クロック抽出を可能とする周波数離調のトレランスが向上し、最終的に得られる抽出光クロック光の相対雑音強度を十分低い値に抑制可能となった。さらに、本手法による分周光クロック抽出と、可飽和吸収体(SA)光ゲートとを組み合わせて、40から10Gbpsへの全光DEMUXを行いエラーフリーの動作を得た。
抄録(英) We describe a novel two-stage all-optical subharmonic clock recovery using mode-locked laser diodes. The method we used to improve the stability of all-optical subharmonic clock recovery is based on the injection-synchronization of the MLLD. The first stage is for optical clock extraction at the same frequency as that of the injected optical data, and second stage is the periodic optical pulse injection into a mode-locked diode laser generating a subharmonic frequency. The advantage of the present two-stage scheme is that it enables the expansion of frequency detuning range and the low relative intensity noise(RIN) value for the extracted subharmonic optical clock pulses. This clock recovery scheme was successfully applied to 40- to 10 Gbps all-optical demultiplexing.
キーワード(和) モード同期 / 半導体レーザ / 光信号処理 / クロック抽出 / 可飽和吸収体
キーワード(英) mode-locking / semiconductor laser / optical signal processing / clock extraction / saturable absorber
資料番号 OPE2000-36,LQE2000-30
発行日

研究会情報
研究会 LQE
開催期間 2000/6/30(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Lasers and Quantum Electronics (LQE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) OPE2000-36 / LQE2000-30 モード同期半導体レーザによる分周光クロック抽出の高安定化
サブタイトル(和)
タイトル(英) Stabilization of Subharmonic All-Optical Clock Recovery using Mode-Locked Laser Diodes through a Cascading Two-Stage Configuration
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) モード同期 / mode-locking
キーワード(2)(和/英) 半導体レーザ / semiconductor laser
キーワード(3)(和/英) 光信号処理 / optical signal processing
キーワード(4)(和/英) クロック抽出 / clock extraction
キーワード(5)(和/英) 可飽和吸収体 / saturable absorber
第 1 著者 氏名(和/英) 橋本 陽一 / Yoichi Hashimoto
第 1 著者 所属(和/英) NECシステムデバイス・基礎研究本部
System Devices and Fundamental Research, NEC Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 栗田 寿一 / Hisakazu Kurita
第 2 著者 所属(和/英) NECシステムデバイス・基礎研究本部
System Devices and Fundamental Research, NEC Corporation
第 3 著者 氏名(和/英) 小倉 一郎 / Ichiro Ogura
第 3 著者 所属(和/英) NECシステムデバイス・基礎研究本部
System Devices and Fundamental Research, NEC Corporation
第 4 著者 氏名(和/英) 横山 弘之 / Hiroyuki Yokoyama
第 4 著者 所属(和/英) NECシステムデバイス・基礎研究本部
System Devices and Fundamental Research, NEC Corporation
発表年月日 2000/6/30
資料番号 OPE2000-36,LQE2000-30
巻番号(vol) vol.100
号番号(no) 170
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日