講演名 1998/6/16
フォトリフラクティブ結晶を用いた散乱光ノイズの除去と光計測への応用
白鳥 明, 間 竜二, 小原 實,
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抄録(和) 散乱媒質を透過したレーザ光の情報を、散乱光ノイズから取り出す方法としてフォトリフラクティブBaTiO_3結晶を用いたコヒーレンスゲート法に注目し、その散乱光ノイズ除去性能を実験的に検討した。フォトリフラクティブ結晶中の二光波混合は入射レーザ光と結晶の幾何学的な配置に依存し、最適化された条件において16mfpまでの散乱媒質を透過したレーザ光の画像情報を高いS/N比で抽出できることがわかった。また、フォトリフラクティブコヒーレンスゲート法をレーザ干渉計測に応用することにより、最大17mfpまでの散乱媒質を透過したレーザ光の干渉信号を高いコントラストで検出することに成功した。この方法の応用例として、光散乱性薄膜の膜厚分布計測をマッハ・ツェンダー干渉計により行い、従来の干渉計では強い散乱光ノイズにより不可能であった物質を対象とした干渉計測を原理的に実証した。
抄録(英) We have experimentally studied on an optimal geometric arrangement for photorefractive coherence-gated imaging using a photorefractive barium titanate crystal. Performance of noise reduction was strongly dependent on the geometric arrangement of incident laser beams and rotational angle of the photorefractive crystal, and it was found that the image was extracted through up to 16-mfp scattering media with a high S/N ratio at the optimized geometry. We have also demonstrated photorefractive coherence-gated interferometry, which has a photorefractive coherence gate in the optical path, and extracted interferometric signal through up to 17-mfp scattering media with a high visibility. Two-dimensional thickness measurement of an optically scattering thin film was demonstrated as an application of our new interferometric technique.
キーワード(和) フォトリフラクティブ効果 / コヒーレンスゲート / 二光波混合 / レーザ干渉計測
キーワード(英) Photorefractive effect / Coherence gating / Two-wave mixing / Laser interferometry
資料番号 LQE98-21
発行日

研究会情報
研究会 LQE
開催期間 1998/6/16(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Lasers and Quantum Electronics (LQE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) フォトリフラクティブ結晶を用いた散乱光ノイズの除去と光計測への応用
サブタイトル(和)
タイトル(英) Photorefractive coherence gating for optical sensing application
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) フォトリフラクティブ効果 / Photorefractive effect
キーワード(2)(和/英) コヒーレンスゲート / Coherence gating
キーワード(3)(和/英) 二光波混合 / Two-wave mixing
キーワード(4)(和/英) レーザ干渉計測 / Laser interferometry
第 1 著者 氏名(和/英) 白鳥 明 / Akira Shiratori
第 1 著者 所属(和/英) 慶應義塾大学理工学部電子工学科
Department of Electronics and Electrical Engineering Faculty of Science and Technology, Keio University
第 2 著者 氏名(和/英) 間 竜二 / Ryuji Aida
第 2 著者 所属(和/英) 慶應義塾大学理工学部電子工学科
Department of Electronics and Electrical Engineering Faculty of Science and Technology, Keio University
第 3 著者 氏名(和/英) 小原 實 / Minoru Obara
第 3 著者 所属(和/英) 慶應義塾大学理工学部電子工学科
Department of Electronics and Electrical Engineering Faculty of Science and Technology, Keio University
発表年月日 1998/6/16
資料番号 LQE98-21
巻番号(vol) vol.98
号番号(no) 109
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日