講演名 2000/5/19
光ファイバ母材屈折率分布計測技術
加藤 富士夫, 佐々木 一正, 森田 満一,
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抄録(和) 本報告は光ファイバ母材の内部屈折率分布を計測する新しい方式を提案するものである。母材の内部構造により光線が偏光するため、母材を透かして画像を見たとき、画像が歪んでみえることを利用し、画像情報処理技術により画像歪みを解析し、この情報から数値計算により屈折率分布を求める。平板状のインコヒーレント光源を用い、画像はこの光源面に配置される。母材の背後にこれを設置しCCDカメラで撮影して情報を取得しその画像歪みから内部屈折率分布を計算する。その原理を確認するために、試作装置を組み立て、通常のGI母材や、これまで測定が困難であった高NA母材による測定を試みた。通常のGI母材の結果は、その母材から線引きしたファイバから得た結果と良い一致性を示し、高NA母材においても良い一致がみられ、従来法に比較して広い許容範囲をもった測定法であることが確認できた。
抄録(英) A novel technique for the measurement of refractive-index profiles in optical fiber preform is presented. The method uses image distortion analysis with graphic data processing technique applying for determining ray deflection, which the index profiles can be numerically converted from. An object is located behind of the sample preform to observe its image and the image will be distorted if non-uniformity exists in the sample. In order to confirm the principle by experiment, we construct prototype system and try measurements by using useal GI and high NA performs, which have been out of the range of conventional perform analyzer. The result for usual GI preform shows a good agreement to the result obtained from fiber drawn from the preform and high NA index profile is also successfully measured with good accuracy.
キーワード(和) 光ファイバ母材 / 屈折率分布測定 / プリフォーム / 画像歪み解析
キーワード(英) Optical fiber perform / index profile measurement / image distortion analysis
資料番号 OFT2000-20
発行日

研究会情報
研究会 OFT
開催期間 2000/5/19(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Optical Fiber Technology (OFT)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 光ファイバ母材屈折率分布計測技術
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Novel Technique for the Measurement of Index-Profile in Optical Fiber Preforms
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 光ファイバ母材 / Optical fiber perform
キーワード(2)(和/英) 屈折率分布測定 / index profile measurement
キーワード(3)(和/英) プリフォーム / image distortion analysis
キーワード(4)(和/英) 画像歪み解析
第 1 著者 氏名(和/英) 加藤 富士夫 / Fujio Kato
第 1 著者 所属(和/英) 北海道工業大学応用電子工学科
Hokkaido Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 佐々木 一正 / Issei Sasaki
第 2 著者 所属(和/英) 北海道工業大学応用電子工学科
Hokkaido Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 森田 満一 / Mitsukazu Morita
第 3 著者 所属(和/英) セイコーEG&G
SEIKO EG&G
発表年月日 2000/5/19
資料番号 OFT2000-20
巻番号(vol) vol.100
号番号(no) 85
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日