| 講演名 | 2001/12/14 メインメモリの信頼性技術の歴史 : 高信頼度電子システム開発の回顧 川又 晃, |
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| 抄録(和) | 最近の半世紀に於ける各分野の変化の激しさを展望し、其の中で情報電子通信分野で画期的な変革・進歩の一つと思われる電子交換装置の研究・実用化に従事してえた緒結果をメインメモリを中心として述べる。目標の長寿命・高信頼度化達成の為に開発・実施した緒手法と其れらの結果を定量的に述べ、結果的に不必要になった半固定メモリに就いても回顧する。安全性・高信頼化が抱える問題点にも言及する。 |
| 抄録(英) | This report describes on the higher reliability electronics systems design phlosophy and technology. |
| キーワード(和) | 苛酷な要求条件 / 電子交換機 / Fit / IC, LSIの導入判断 / 躍進と問題発生 |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | R2001-36,SSS2001-31 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SSS |
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| 開催期間 | 2001/12/14(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Safety (SSS) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | メインメモリの信頼性技術の歴史 : 高信頼度電子システム開発の回顧 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Hystory of reliability for mainmemory |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 苛酷な要求条件 |
| キーワード(2)（和/英） | 電子交換機 |
| キーワード(3)（和/英） | Fit |
| キーワード(4)（和/英） | IC, LSIの導入判断 |
| キーワード(5)（和/英） | 躍進と問題発生 |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 川又 晃 / Akira Kawamata |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NTT電気通信研究所:名古屋大学電子工学科:K.K.ミナトエレクトロニクス |
| 発表年月日 | 2001/12/14 |
| 資料番号 | R2001-36,SSS2001-31 |
| 巻番号（vol） | vol.101 |
| 号番号（no） | 527 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |