| 講演名 | 2001/11/22 論理回路のテストパターンに含まれるドントケアの判走法について 宮瀬 紘平, 梶原 誠司, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 論理回路のテストパターンを構成する論理値には, 逆の値に置き換えても故障検出率に影響を与えないものがある.そのような入力値は, ドントケア(以下, Xと表す)と見なすことができる.本論文では, ATPGアルゴリズムの含意操作・正当化操作と同様の処理を用いて, 与えられたテスト集合に含まれるドントケアをできるだけ多く見つける手法を提案する.ISCASベンチマーク回路に対する実験では, 本手法は圧縮されていないテスト集合の約66%の入力がXとなり, また, 圧縮されたテスト集合であっても平均47%のXとなることを示す.本手法は, SoCのテストにおける諸問題を解決するための種々の手法に応用できるが, 本論文の最後に, 本手法を用いたテストパターン変換の応用について議論する. |
| 抄録(英) | Given a test set for stuck-at faults, some of primary input values may be changed to opposite logic values without losing fault coverage. One can regard such input values as don't care(X). In this paper, we propose a method for identifying X inputs of test vectors in a given test set. While there are many combinations of X inputs in the test set generally, the proposed method finds one including X inputs as many as possible, by using fault simulation and procedures similar to implication and justification of ATPG algorithms. Experimental results for ISCAS benchmark circuits show that approximately 66% of inputs of un-compacted test sets could be X. Even for compacted test sets, the method found that approximately 47% of inputs are X. Finally, we discuss how logic values are reassigned to the identified X inputs where several applications exist to make test vectors more desirable for solving problems of SoC testing. |
| キーワード(和) | テスト生成 / ドントケア入力 / テスト圧縮 / 組合せ回路 / 縮退故障 |
| キーワード(英) | test generation / don't-care input / test compaction / combinational circuit / stuck-at fault |
| 資料番号 | CPSY2001-74 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY |
|---|---|
| 開催期間 | 2001/11/22(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Computer Systems (CPSY) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 論理回路のテストパターンに含まれるドントケアの判走法について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Identifying Don't-Care Inputs of Test Patterns for Logic Circuits |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | テスト生成 / test generation |
| キーワード(2)（和/英） | ドントケア入力 / don't-care input |
| キーワード(3)（和/英） | テスト圧縮 / test compaction |
| キーワード(4)（和/英） | 組合せ回路 / combinational circuit |
| キーワード(5)（和/英） | 縮退故障 / stuck-at fault |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 宮瀬 紘平 / Kohei MIYASE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学情報工学部電子情報工学科 Department of Computer Sciences and Electronics Kyushu Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji KAJIHARA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ Department of Computer Sciences and Electronics Kyushu Institute of Technology:Center for Microelectronics Systems Kyushu Institute ofTechnology |
| 発表年月日 | 2001/11/22 |
| 資料番号 | CPSY2001-74 |
| 巻番号（vol） | vol.101 |
| 号番号（no） | 473 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |