| 講演名 | 1999/4/16 Design of an Automatic Testing for FPGAs , |
|---|---|
| PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | This paper presents a new design for testing SRAM-based field programmable gate arrays (FPGAs). The original SRAM part is modified a bit so that the FPGA gets the ability to automatically test itself. This method does not need a large outside FPGA memory (off-chip memory) and it can be used either by the company after fabrication of FPGA or by the normal users. It is proved that this method detects multiple faults, covers 100% of modeled faults and the test time is very short comparing with other approaches. The simulation results of Xilinix XC4000 family, using CAD tools, shows that the routing and the placement of this method are easily achieved. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | Field programmable gate array (FPGA) / testing / Design for testing / Shifting configurations / Programmability |
| 資料番号 | CPSY99-12 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY |
|---|---|
| 開催期間 | 1999/4/16(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Computer Systems (CPSY) |
|---|---|
| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Design of an Automatic Testing for FPGAs |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Field programmable gate array (FPGA) |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / Abderrahim Doumar |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Graduate School of Science and Technology, Chiba University, Japan |
| 発表年月日 | 1999/4/16 |
| 資料番号 | CPSY99-12 |
| 巻番号（vol） | vol.99 |
| 号番号（no） | 6 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | |