講演名 2004/9/3
近接照明下における画像の線形化の検討(一般セッション(4))(CVのためのパターン認識・学習理論の新展開)
佐藤 智, 高田 和豊, 登 一生,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) 物体認識・形状計測・顔認識の精度向上のために,影・鏡面反射・拡散反射の分類が有効である.このような目的のために,画像の線形化手法を用いる方法が従来,提案されている.しかし,この手法は無限点光源を仮定しているため,近接照明など一般環境に近い光源環境では利用できないという問題があった.本研究では,処理領域の分割と線形化係数組の補間処理を用いることにより,近接照明下においても利用できる画像の線形化手法を提案する.
抄録(英) For the improvement in accuracy of object recognition, 3D measurement, and face recognition, the classification of shadow, specular reflection and diffuse reflection is effective. For this purpose, Photometric Linearization method has been proposed. However, since this method assumed infinite point light source, it has the problem that it cannot use under point light source. In this paper, we propose the Photometric Linearization method under point light source using image partition and interpolation of coefficients of Photometric Linearization.
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 PRMU2004-73
発行日

研究会情報
研究会 PRMU
開催期間 2004/9/3(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Pattern Recognition and Media Understanding (PRMU)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 近接照明下における画像の線形化の検討(一般セッション(4))(CVのためのパターン認識・学習理論の新展開)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Evaluation of Photometric Linearization of images obtained under Point Light Source
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 佐藤 智 / Satoshi SATO
第 1 著者 所属(和/英) 松下電器産業株式会社先端技術研究所
Advanced Technology Research Laboratories, Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
第 2 著者 氏名(和/英) 高田 和豊 / Kazutoyo TAKATA
第 2 著者 所属(和/英) 松下電器産業株式会社先端技術研究所
Advanced Technology Research Laboratories, Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
第 3 著者 氏名(和/英) 登 一生 / Kunio NOBORI
第 3 著者 所属(和/英) 松下電器産業株式会社先端技術研究所
Advanced Technology Research Laboratories, Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
発表年月日 2004/9/3
資料番号 PRMU2004-73
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 290
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日