| 講演名 | 2003/2/21 画質劣化期間がSSCQE法の主観評価値に与える影響の解析 堀田 裕弘, 宮原 典史, 本田 和博, 村井 忠邦, |
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| 抄録(和) | デジタル符号化された動画像に生じる時間的に変化を伴った画質劣化は、その画質劣化の程度と期間が影響することが知られている。符号化により、画質劣化の程度と期間は動画像中で大変急激に変動する。そこで、本報告では、動画像の画質劣化の劣化期間が総合的な画質評価にどのように影響するかを調査した。実験では3種類の動画像に対して、6種類の劣化期間を変化させた評価用動画像を作成した。画質評価値は、SSCQE法により得られた。分散分析の結果、平均画質評点から得られた主観的な劣化期間は画像の種類には影響せず、劣化期間に強く影響していることがわかった。また、劣化期間への評定者の遅延時間は、劣化期間には依存しておらず、2～3秒程度であった。さらに、評定者は画質低下領域の安定した評点に7～15秒を要することもわかった。 |
| 抄録(英) | Impairments appearing in time-varying digitally-coded videos have the potential to differ with respect both their intensity and their duration. The duration and intensity of an impairment can vary quite dramatically within a video sequence. This paper details experiment designed to investigate if the duration of a video impairment affects overall picture quality rating. In our experiment, 3 kinds of video sequence were presented with varying levels of duration. Picture quality ratings were obtained using the SSCQE method. The ANOVA produced a significant main effect of impairment duration. The varying delay in viewer response time of impairment is not significant for duration. Moreover, subjects take between 7 and 15 seconds before reaching a stable quality level in response to a marked fall in pciture quality. |
| キーワード(和) | 連続画質評価 / SSCQE法 / 劣化時間 |
| キーワード(英) | Continuous assessment / SSCQE method / Duration Effect / MPEG |
| 資料番号 | CQ2002-131,MVE2002-105 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MVE |
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| 開催期間 | 2003/2/21(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Media Experience and Virtual Environment (MVE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 画質劣化期間がSSCQE法の主観評価値に与える影響の解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis of influence of impairment duration on SSCQE subjective mean quality rating |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 連続画質評価 / Continuous assessment |
| キーワード(2)（和/英） | SSCQE法 / SSCQE method |
| キーワード(3)（和/英） | 劣化時間 / Duration Effect |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 堀田 裕弘 / Yuukou HORITA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 富山大学工学部電気電子システム工学科 Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Toyama University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 宮原 典史 / Norifumi MIYAHARA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 富山大学工学部電気電子システム工学科 Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Toyama University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 本田 和博 / Kazuhiro HONDA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 富山大学工学部電気電子システム工学科 Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Toyama University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 村井 忠邦 / Tadakuni MURAI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 富山大学工学部電気電子システム工学科 Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Toyama University |
| 発表年月日 | 2003/2/21 |
| 資料番号 | CQ2002-131,MVE2002-105 |
| 巻番号（vol） | vol.102 |
| 号番号（no） | 662 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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