| 講演名 | 2003/8/21 屋外曝露試験における石英系PLCモジュールの安定性(光部品・電子デバイス実装技術, 一般) 福満 高雄, 石井 元速, 日比野 善典, 小口 泰介, 塙 文明, 高木 章宏, 永井 収, |
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| 抄録(和) | ブロードバンドアクセスサービスの普及により、経済的な光アクセス網として光スプリッタを用いるPON(Passive optical network)の導入が積極的に進められている。この方式では光スプリッタを屋外に設置するため、光スプリッタには小型で低損失であることに加えて高い信頼性が求められる。石英系プレーナ光波回路を用いた光スプリッタは、これらの特徴をそなえており、PONへの適用性が高い。我々は、PLCモジュールの屋外環境における信頼性を検討するため、光スプリッタ、フィルタ内蔵波長無依存カプラ(WINC)の2種類のモジュールについて、気象条件の異なる3ヶ所で屋外に設置し、5万時間の暴露試験を行った。曝露試験の結果、各地点の全サンプルで光学特性の大きな変化は発生せず。フィルタ内蔵WINCのフィルタ性能も大きな劣化は発生しなかった。試験結果の試験場所による顕著な差異は見られなかった。試験結果よりPLCを屋外に設置しても信頼性上問題ないことを確認したので報告する。 |
| 抄録(英) | We investigated stability of planar lightwave circuits (PLC) modules under outdoor environment. We experimented outdoor exposure tests on PLC modures. We tested 2x8 optical splitter and 2x2 w__-avelength |
| キーワード(和) | スプリッタ / WINC / 波長選択フィルタ / PLC / 曝露試験 / 気象条件 / 挿入損失 / 反射減衰量 |
| キーワード(英) | splitter / WINC / bandpass filter / PLC / exposure test / climate condition / insertion loss / return loss |
| 資料番号 | EMD2003-33,CPM2003-78,OPE2003-115,LQE2003-34 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | LQE |
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| 開催期間 | 2003/8/21(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Lasers and Quantum Electronics (LQE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 屋外曝露試験における石英系PLCモジュールの安定性(光部品・電子デバイス実装技術, 一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Stability of silica-based PLC modules during outdoor exposure tests |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | スプリッタ / splitter |
| キーワード(2)（和/英） | WINC / WINC |
| キーワード(3)（和/英） | 波長選択フィルタ / bandpass filter |
| キーワード(4)（和/英） | PLC / PLC |
| キーワード(5)（和/英） | 曝露試験 / exposure test |
| キーワード(6)（和/英） | 気象条件 / climate condition |
| キーワード(7)（和/英） | 挿入損失 / insertion loss |
| キーワード(8)（和/英） | 反射減衰量 / return loss |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 福満 高雄 / Takao FUKUMITSU |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所 NTT Corp. NTT Photonics Laboratories |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 石井 元速 / Motohaya ISHII |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所 NTT Corp. NTT Photonics Laboratories |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 日比野 善典 / Yoshinori HIBINO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所 NTT Corp. NTT Photonics Laboratories |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 小口 泰介 / Taisuke OGUCHI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所 NTT Corp. NTT Photonics Laboratories |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 塙 文明 / Fumiaki HANAWA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所:日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所:(現)NTTエレクトロニクス NTT Corp. NTT Photonics Laboratories:(Present address)NTT Electronics Co. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 高木 章宏 / Akihiro TAKAGI |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所:(現)NTTエレクトロニクス NTT Corp. NTT Photonics Laboratories:(Present address)NTT Electronics Co. |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 永井 収 / Osamu NAGAI |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所 NTT Corp. NTT Photonics Laboratories |
| 発表年月日 | 2003/8/21 |
| 資料番号 | EMD2003-33,CPM2003-78,OPE2003-115,LQE2003-34 |
| 巻番号（vol） | vol.103 |
| 号番号（no） | 273 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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