| 講演名 | 2003/12/13 [Invited Paper]High power 980-nm pump lasers , |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | Over the last five years, the maximum reliable power of Bragg-grating stabilized pump modules has increased by about three times from 150 to 500 mW while the chip failure rate was maintained at less than 500 FITs. This paper reviews some of the key experiments and understandings leading to this progress. The key technologies studied are long cavity length up to 3 mm, internal loss down to 1.5 cm^<-1>, unpumped windows near both facets to increase catastrophic optical mirror damage threshold, vertical far field angle as small as 12.5 degree and low thermal impedance by p-down bonding. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | High power / 980 nm / Pump lasers / GaAs / Kink free power / Electrical over stress / sudden failure / reliability |
| 資料番号 | ORE2003-217,LQE2003-154 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OPE |
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| 開催期間 | 2003/12/13(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Optoelectronics (OPE) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Invited Paper]High power 980-nm pump lasers |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / High power |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / Chung-En ZAH |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Corning Incorporated |
| 発表年月日 | 2003/12/13 |
| 資料番号 | ORE2003-217,LQE2003-154 |
| 巻番号（vol） | vol.103 |
| 号番号（no） | 525 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |