講演名 2004/2/27
電磁コンタクタ用接点の消耗・転移とその評価法に関する研究(<特集>卒論・修論特集)
川上 洋介, 高嶋 政彰, 澤 孝一郎,
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抄録(和) 本研究の目的は,中負荷電磁コンタクタ用接点における直流電流による接点現象と交流電流による現象を比較し,基本的な理解の得られる直流電流を用いた試験で,実用面において重要な交流電流での接点消耗を評価できるかを調べることである.そこで,直流電流による一定目数開閉したサンプルを2つ,交流電流モードによる一定回数開閉したサンプルを3つ作成し,それらの質量変化を調べた.また,サンプルを作成する過程で接触抵抗,アーク継続時間を測定し,それら3点の比較により直流電流による接点現象と交流電流モードによる接点現象の比較検討を行った.その結果,両者の間には明らかな相違があることがわかった.
抄録(英) Electromagnetic contactor is often used in the systems with AC supply. On the other hand, the DC mode test supplies more fundamental data for us to investigate the electrical contacts than the AC mode test. So, in this paper, we compared the data of the DC mode test with that of the AC mode test in three respects of contact resistance, arc duration, and the amount of wear and investigated a possibility to estimate contact erosion in AC supply in terms of the DC mode test. The results show that there are clear differences between them and solution of these differences will lead to our goal.
キーワード(和) 直流電流モード / 交流電流モード / 接触抵抗 / アーク継続時間 / 質量消耗・転移 / 電極極性
キーワード(英) the DC mode / the AC mode / contact resistance / arc duration / material transfer and wear-out / polarity of electrodes
資料番号 EMD2003-115
発行日

研究会情報
研究会 EMD
開催期間 2004/2/27(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromechanical Devices (EMD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 電磁コンタクタ用接点の消耗・転移とその評価法に関する研究(<特集>卒論・修論特集)
サブタイトル(和)
タイトル(英) An Evaluation Method of the Contact Erosion Based on the DC Mode Test of Electromagnetic Contactor
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 直流電流モード / the DC mode
キーワード(2)(和/英) 交流電流モード / the AC mode
キーワード(3)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance
キーワード(4)(和/英) アーク継続時間 / arc duration
キーワード(5)(和/英) 質量消耗・転移 / material transfer and wear-out
キーワード(6)(和/英) 電極極性 / polarity of electrodes
第 1 著者 氏名(和/英) 川上 洋介 / Yosuke Kawakami
第 1 著者 所属(和/英) 慶應義塾大学理工学部システムデザイン工学科
Keio University, System Design Engineering Department, Faculty of Science and Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 高嶋 政彰 / Masaaki Takashima
第 2 著者 所属(和/英) 慶應義塾大学理工学部システムデザイン工学科
Keio University, System Design Engineering Department, Faculty of Science and Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa
第 3 著者 所属(和/英) 慶應義塾大学理工学部システムデザイン工学科
Keio University, System Design Engineering Department, Faculty of Science and Technology
発表年月日 2004/2/27
資料番号 EMD2003-115
巻番号(vol) vol.103
号番号(no) 694
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日