| 講演名 | 2003/11/13 Application of Shadow Image Processing Technique to 3-D Observation of Damaged Surface Profile in Sliding Contact (Session 3 : Sliding contacts and connectors) , |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | Relationship between sliding effects and damages on sliding contact surfaces were studied using the digital image measuring system (DIMS) which was developed by the authors for quantitative analysis on the surface damage. The shadow image processing technique (SIPT) was applied. By using both DIMS and SIPT, the surface damage on the contact could be successfully observed as the 3-D images. In this paper, the measure ring systems and the result examples will be shown. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | EMD2003-72 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2003/11/13(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Application of Shadow Image Processing Technique to 3-D Observation of Damaged Surface Profile in Sliding Contact (Session 3 : Sliding contacts and connectors) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / Masanari TANIGUCHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Faculty of Science and Technology, Tohoku Bunka Gakuen University |
| 発表年月日 | 2003/11/13 |
| 資料番号 | EMD2003-72 |
| 巻番号（vol） | vol.103 |
| 号番号（no） | 448 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |