講演名 | 2002/11/8 Dynamic influence on contact failure , |
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抄録(和) | |
抄録(英) | Nowadays electronic devices and systems are wildly used in various dynamic environments. It causes a kind of electrical contact instability which is easily to be ignored. That is dynamic influence on contact failure. In this paper, the investigation of contact failure connected with dynamic influences has been done, the way of analyzing the contact failure caused by dynamic factors was discussed, and the result shows that this influence could not be well covered in the experimental testing on new product. |
キーワード(和) | |
キーワード(英) | contact failure / vibration / micro-motion |
資料番号 | EMD2002-80 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | EMD |
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開催期間 | 2002/11/8(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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本文の言語 | ENG |
タイトル(和) | |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Dynamic influence on contact failure |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | / contact failure |
第 1 著者 氏名(和/英) | / Liang-Jun Xu |
第 1 著者 所属(和/英) | Research Lab of Electric Contacts:Beijing University of Posts and Telecommunications |
発表年月日 | 2002/11/8 |
資料番号 | EMD2002-80 |
巻番号(vol) | vol.102 |
号番号(no) | 453 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 5 |
発行日 |