講演名 2002/11/8
Dynamic influence on contact failure
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抄録(和)
抄録(英) Nowadays electronic devices and systems are wildly used in various dynamic environments. It causes a kind of electrical contact instability which is easily to be ignored. That is dynamic influence on contact failure. In this paper, the investigation of contact failure connected with dynamic influences has been done, the way of analyzing the contact failure caused by dynamic factors was discussed, and the result shows that this influence could not be well covered in the experimental testing on new product.
キーワード(和)
キーワード(英) contact failure / vibration / micro-motion
資料番号 EMD2002-80
発行日

研究会情報
研究会 EMD
開催期間 2002/11/8(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromechanical Devices (EMD)
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Dynamic influence on contact failure
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / contact failure
第 1 著者 氏名(和/英) / Liang-Jun Xu
第 1 著者 所属(和/英)
Research Lab of Electric Contacts:Beijing University of Posts and Telecommunications
発表年月日 2002/11/8
資料番号 EMD2002-80
巻番号(vol) vol.102
号番号(no) 453
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日