| 講演名 | 2002/6/14 窒素雰囲気中で動作したコンタクト表面の消耗特性に関する一考察 長谷川 誠, 沢 孝一郎, |
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| 抄録(和) | 窒素雰囲気中及び大気中で数Aオーダの直流誘導性負荷回路電流の連続遮断試験を行ったAg,Pd、Cuコンタクト表面の転移消耗状態を、走査型レーザ顕微鏡にて観察した。特に今回は、コンタクト表面に形成された突起・クレータの径及び高さ・深さを、数値的に評価した。その結果、周囲雰囲気、負荷電流値、およびコンタクト材料に依存して、興味ある相違が見出された。例えばAgコンタクトでは、陰極側表面に形成されるクレータ深さが、負荷電流値が大きくなった場合に窒素中動作サンプルの方が大きくなった。 |
| 抄録(英) | Ag, Pd and Cu contacts were operated in nitrogen atmosphere and in air to consecutively break a DC inductive load current up to 3A, and the resultant contact surface erosion/transfer configurations were numerically evaluated with a digital scanning laser microscope. Specifically, in this study, diameter and height or depth of pips/craters formed on the contact surfaces were measured. As a result, interesting differences depending on surrounding atmosphere, load current values and contact materials were found. For example, in the case of Ag contacts with a load current of 3A, a deeper crater was likely to be formed on a cathode surface operated in nitrogen atmosphere than that operated in air. Some experimental data are presented herein. |
| キーワード(和) | コンタクト / 消耗 / 転移 / アーク放電 / レーザ顕微鏡 |
| キーワード(英) | Electrical contact / Erosion / Material transfer / Arc discharge / Laser microscope |
| 資料番号 | EMD2002-13 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2002/6/14(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 窒素雰囲気中で動作したコンタクト表面の消耗特性に関する一考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Experimental Study on Surface Erosion Characteristics of Contacts operated in Nitrogen Atmosphere |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | コンタクト / Electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 消耗 / Erosion |
| キーワード(3)（和/英） | 転移 / Material transfer |
| キーワード(4)（和/英） | アーク放電 / Arc discharge |
| キーワード(5)（和/英） | レーザ顕微鏡 / Laser microscope |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 長谷川 誠 / Makoto HASEGAWA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 千歳科学技術大学 光科学部光応用システム学科 Department of Applied Photonics System Technology, Chitose Institute of Science and Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 沢 孝一郎 / Koichiro SAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学 理工学部システムデザイン工学科 Department of System Design Engineering, Keio University |
| 発表年月日 | 2002/6/14 |
| 資料番号 | EMD2002-13 |
| 巻番号（vol） | vol.102 |
| 号番号（no） | 136 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |