| 講演名 | 2003/1/20 SrS:Ce薄膜EL素子の作製時における成長槽内の残留水分の影響 木村 隆宏, 岡 秀和, 高須 康輔, 深田 晴己, 大観 光徳, 田中 省作, 小林 洋志, |
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| 抄録(和) | ガラス基板と両面ITO透明電極の組み合わせによるSrS:Ce透明薄膜EL素子を電子線蒸着法により作製した。Ce^<3+>の発光は成膜方法や条件により変化しやすく、再現性が得られていない。そこでCe^<3+>の青緑色発光の再現を試みた。今回Ce^<3+>発光と成長槽内の雰囲気の関係をQMS(四重極質量分析計)により調べた。過剰なH_2Sの供給と、適度なH_2Oの雰囲気の組み合わせにより作製したSrS:Ce薄膜EL素子は、Ce^<3+>本来の青緑色発光を示した。作製した透明EL素子は1kHz、250V駆動においてCIE色度座標値(x,y)=(0.18,0.33)、輝度340cd/m^2、効率0.15lm/Wを示した。 |
| 抄録(英) | SrS : Ce transparent thin film electroluminescent (EL) devices having a glass substrate and both-sides transparent ITO electrodes have been prepared by electron beam evaporation method. Ce^<3+> luminescence easily changed by deposition methods and conditions and has not been reproduced yet. In this study, we made efforts to reproduce bluish-green Ce^<3+> luminescence. The relation between Ce^<3+> luminescence and deposition atmosphere was investigated using a QMS(quadrupole mass spectroscopy) measurement. Bluish-green consistent Ce^<3+> luminescence with higher luminance and efficiency can be achieved for the SrS:Ce TFEL devices prepared in the atmosphere of both proper moisture atmosphere and excess sulfur supply. Maximum luminance, efficiency and CIE color coordinate are 340 cd/m_2, 0.15 lm/W and (0.18, 0.33), respectively. |
| キーワード(和) | SrS:Ce / 透明薄膜EL素子 / 電子線蒸着法 / H_2S供給 / QMS(四重極質量分析計)測定 |
| キーワード(英) | SrS:Ce / transparent TFEL devices / electron beam evaporation / H_2S supply / QMS measurement |
| 資料番号 | EID20002-93 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID |
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| 開催期間 | 2003/1/20(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | SrS:Ce薄膜EL素子の作製時における成長槽内の残留水分の影響 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Influence of remaining moisture atmosphere in growth chamber on luminescent characteristics of SrS:Ce TFEL devices |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | SrS:Ce / SrS:Ce |
| キーワード(2)（和/英） | 透明薄膜EL素子 / transparent TFEL devices |
| キーワード(3)（和/英） | 電子線蒸着法 / electron beam evaporation |
| キーワード(4)（和/英） | H_2S供給 / H_2S supply |
| キーワード(5)（和/英） | QMS(四重極質量分析計)測定 / QMS measurement |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 木村 隆宏 / Takahiro KIMURA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部 Dept.Electrical and Electronic Eng.,Tottori Univ. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 岡 秀和 / Hidekazu OKA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部 Dept.Electrical and Electronic Eng.,Tottori Univ. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 高須 康輔 / Kousuke TAKASU |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部 Dept.Electrical and Electronic Eng.,Tottori Univ. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 深田 晴己 / Haruki FUKADA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 静岡大学ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー Venture business laboratory Shizuoka Univ. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 大観 光徳 / Koutoku OHMI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部 Dept.Electrical and Electronic Eng.,Tottori Univ. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 田中 省作 / Shosaku TANAKA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部 Dept.Electrical and Electronic Eng.,Tottori Univ. |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 小林 洋志 / Hiroshi KOBAYASHI |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部 Dept.Electrical and Electronic Eng.,Tottori Univ. |
| 発表年月日 | 2003/1/20 |
| 資料番号 | EID20002-93 |
| 巻番号（vol） | vol.102 |
| 号番号（no） | 600 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |