講演名 | 2003/9/22 パラメータ抽出用のデータ数削減手法とその応用(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般) 佐藤 修平, 寺田 和夫, 寺内 衛, |
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抄録(和) | パラメータ抽出計算に用いるデータのうちデータ曲線の特徴をあらわすものを自動的に取り出す,データ数削減手法を考案した.この手法を非線形最小2乗法と遺伝的アルゴリズムを組み合わせるパラメータ抽出法に実装し,MOSFETのI-V特性に適用した.その結果,データ数が減った分抽出の高速化が可能になり,精度低下も小さいことがわかった. |
抄録(英) | |
キーワード(和) | パラメータ抽出 / 遺伝的アルゴリズム / データ数削減 / 高速化 |
キーワード(英) | |
資料番号 | VLD2003-64 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | VLD |
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開催期間 | 2003/9/22(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | パラメータ抽出用のデータ数削減手法とその応用(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Data Number Reduction Method for Parameter Extraction and its Application |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | パラメータ抽出 |
キーワード(2)(和/英) | 遺伝的アルゴリズム |
キーワード(3)(和/英) | データ数削減 |
キーワード(4)(和/英) | 高速化 |
第 1 著者 氏名(和/英) | 佐藤 修平 / Shuhei SATOH |
第 1 著者 所属(和/英) | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University |
第 2 著者 氏名(和/英) | 寺田 和夫 / Kazuo TERADA |
第 2 著者 所属(和/英) | 広島市立大学情報科学部 Faculty of Information Sciences, Hiroshima City University |
第 3 著者 氏名(和/英) | 寺内 衛 / Mamoru TERAUCHI |
第 3 著者 所属(和/英) | 広島市立大学情報科学部 Faculty of Information Sciences, Hiroshima City University |
発表年月日 | 2003/9/22 |
資料番号 | VLD2003-64 |
巻番号(vol) | vol.103 |
号番号(no) | 337 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |