| 講演名 | 2002/11/21 Walsh変換を用いた半導体メモリの故障診断法 伊勢野 総, 井口 幸洋, 笹尾 勤, |
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| 抄録(和) | 半導体メモリのフェイル・ビットマップをWalsh変換し,Walshスペクトラムを得て,故障診断を行う方法を提案する.単一縮退故障の場合,0次と1次のスペクトラムの係数のみから故障の種類を判別できることを示す.アドレスのビット数がnのメモリを診断するための計算複雑度は0(n×2^n)なので高速に故障を診断できる. |
| 抄録(英) | In this paper, we show a method to locate single-stuck at fault for random access memory (RAM). From the fail-bitmaps of the memory, we obtain the Walsh transform of them. For single-stuck at faults, we show that the fault can be located by using only the 0-th and 1-st coefficients of the spectrum. The computation time is O(n×2^n), where n is the number of bits in the address. Thus, we can quickly locate the faults. |
| キーワード(和) | メモリテスト / ウォルシュ変換 / 故障診断 / フェイル・ビットマップ / SRAM |
| キーワード(英) | memory test / Walsh transform / fault diagnosis / fail-bitmap / SRAM |
| 資料番号 | VLD2002-91 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2002/11/21(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | Walsh変換を用いた半導体メモリの故障診断法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fault Diagnosis for RAMs using Walsh Transform |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | メモリテスト / memory test |
| キーワード(2)（和/英） | ウォルシュ変換 / Walsh transform |
| キーワード(3)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(4)（和/英） | フェイル・ビットマップ / fail-bitmap |
| キーワード(5)（和/英） | SRAM / SRAM |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 伊勢野 総 / Atsumu ISENO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 明治大学理工学部 Department of Computer Science, Meiji University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 井口 幸洋 / Yukihiro IGUCHI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 明治大学理工学部 Department of Computer Science, Meiji University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 笹尾 勤 / Tsutomu SASAO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学情報工学部:九州工業大学マイクロ化総合技術センター Department of Computer Science and Electronics, Kyushu Institute of Technology:Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2002/11/21 |
| 資料番号 | VLD2002-91 |
| 巻番号（vol） | vol.102 |
| 号番号（no） | 476 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |