講演名 2002/11/21
LFSRを用いた擬似ランダムパターン発生器の初期値選択手順
市野 憲一, 渡辺 康一, 新井 雅之, 福本 聡, 岩崎 一彦,
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抄録(和) LFSRを使ったVLSIに対する組込み自己テストにおける,初期値(シード)を選択する方法を提案する.本研究では,目標故障カバレージを達成する最短テスト長となるLFSRのシードを決定する方法(最短テスト長シード選定法)と,目標テスト長において,最大故障検出数を達成するシードを決定する方法(最大故障検出数シード選定法)を提案する.提案法はテスト・パー・クロック構成,およびtest-per-scan構成に適用することができる.テストパターンをGF(2^m)上のベクトルとして表現する.このときmはLFSRのビット数を示す.最短テスト長シード選択法は,シードの選択を考慮しない場合と比較して,60%以下のテスト長によって,100%故障カバレージを達成することができた.最大故障検出数シード選定法を20ビットのLFSRを使ったテスト・パー・スキャン構成のc7552回路に適用した結果,テスト長10000において残存故障を比較すると,シードを考慮しない場合は304であったが,提案法を用いることによって残存故障を227に減らした.
抄録(英) We propose a technique of selecting seeds for the LFSR-based test pattern generators that are used in VLSI BIST. By setting the computed seed as an initial value, target fault coverage, for example 100%, can be accomplished with minimum test length. We can also maximize fault coverage for a given test length. Our method can be used for both test-per-clock and test-per-scan BISTs. The procedure is based on vector representation over GF(2^m), where m is the number of LFSR stages. The results show that the test lengths the selected seeds derive are about sixty percent shorter than those derived by conventionally selected seeds for a given fault coverage. We also show that the seeds obtained through this technique accomplish higher fault coverage than the conventional selection procedure. In term of the c7552 benchmark, taking a test-per-scan architecture with a 20-bit LFSR as an example, the number of undetected faults can be decreased from 304 to 227 for 10,000 LFSR patterns using our proposed technique.
キーワード(和) LFSR / 組込み自己テスト / 擬似ランダムテストパターン発生器 / 初期値
キーワード(英) LFSR / BIST / PRPG / Seed
資料番号 VLD2002-90
発行日

研究会情報
研究会 VLD
開催期間 2002/11/21(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 VLSI Design Technologies (VLD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) LFSRを用いた擬似ランダムパターン発生器の初期値選択手順
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Seed Selection Procedure for Random Pattern Generators Based on LFSR
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) LFSR / LFSR
キーワード(2)(和/英) 組込み自己テスト / BIST
キーワード(3)(和/英) 擬似ランダムテストパターン発生器 / PRPG
キーワード(4)(和/英) 初期値 / Seed
第 1 著者 氏名(和/英) 市野 憲一 / Kenichi ICHINO
第 1 著者 所属(和/英) 東京都立大学大学院
Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University
第 2 著者 氏名(和/英) 渡辺 康一 / Ko-ichi WATANABE
第 2 著者 所属(和/英) 東京都立大学大学院
Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University
第 3 著者 氏名(和/英) 新井 雅之 / Masayuki ARAI
第 3 著者 所属(和/英) 東京都立大学大学院
Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University
第 4 著者 氏名(和/英) 福本 聡 / Satoshi FUKUMOTO
第 4 著者 所属(和/英) 東京都立大学大学院
Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University
第 5 著者 氏名(和/英) 岩崎 一彦 / Kazuhiko IWASAKI
第 5 著者 所属(和/英) 東京都立大学大学院
Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University
発表年月日 2002/11/21
資料番号 VLD2002-90
巻番号(vol) vol.102
号番号(no) 476
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日