| 講演名 | 2002/11/21 LFSRを用いた擬似ランダムパターン発生器の初期値選択手順 市野 憲一, 渡辺 康一, 新井 雅之, 福本 聡, 岩崎 一彦, |
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| 抄録(和) | LFSRを使ったVLSIに対する組込み自己テストにおける,初期値(シード)を選択する方法を提案する.本研究では,目標故障カバレージを達成する最短テスト長となるLFSRのシードを決定する方法(最短テスト長シード選定法)と,目標テスト長において,最大故障検出数を達成するシードを決定する方法(最大故障検出数シード選定法)を提案する.提案法はテスト・パー・クロック構成,およびtest-per-scan構成に適用することができる.テストパターンをGF(2^m)上のベクトルとして表現する.このときmはLFSRのビット数を示す.最短テスト長シード選択法は,シードの選択を考慮しない場合と比較して,60%以下のテスト長によって,100%故障カバレージを達成することができた.最大故障検出数シード選定法を20ビットのLFSRを使ったテスト・パー・スキャン構成のc7552回路に適用した結果,テスト長10000において残存故障を比較すると,シードを考慮しない場合は304であったが,提案法を用いることによって残存故障を227に減らした. |
| 抄録(英) | We propose a technique of selecting seeds for the LFSR-based test pattern generators that are used in VLSI BIST. By setting the computed seed as an initial value, target fault coverage, for example 100%, can be accomplished with minimum test length. We can also maximize fault coverage for a given test length. Our method can be used for both test-per-clock and test-per-scan BISTs. The procedure is based on vector representation over GF(2^m), where m is the number of LFSR stages. The results show that the test lengths the selected seeds derive are about sixty percent shorter than those derived by conventionally selected seeds for a given fault coverage. We also show that the seeds obtained through this technique accomplish higher fault coverage than the conventional selection procedure. In term of the c7552 benchmark, taking a test-per-scan architecture with a 20-bit LFSR as an example, the number of undetected faults can be decreased from 304 to 227 for 10,000 LFSR patterns using our proposed technique. |
| キーワード(和) | LFSR / 組込み自己テスト / 擬似ランダムテストパターン発生器 / 初期値 |
| キーワード(英) | LFSR / BIST / PRPG / Seed |
| 資料番号 | VLD2002-90 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2002/11/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | LFSRを用いた擬似ランダムパターン発生器の初期値選択手順 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Seed Selection Procedure for Random Pattern Generators Based on LFSR |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | LFSR / LFSR |
| キーワード(2)（和/英） | 組込み自己テスト / BIST |
| キーワード(3)（和/英） | 擬似ランダムテストパターン発生器 / PRPG |
| キーワード(4)（和/英） | 初期値 / Seed |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 市野 憲一 / Kenichi ICHINO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京都立大学大学院 Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 渡辺 康一 / Ko-ichi WATANABE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京都立大学大学院 Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 新井 雅之 / Masayuki ARAI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京都立大学大学院 Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 福本 聡 / Satoshi FUKUMOTO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東京都立大学大学院 Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 岩崎 一彦 / Kazuhiko IWASAKI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 東京都立大学大学院 Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University |
| 発表年月日 | 2002/11/21 |
| 資料番号 | VLD2002-90 |
| 巻番号（vol） | vol.102 |
| 号番号（no） | 476 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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