| 講演名 | 2002/11/21 ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について 新谷 道広, 小原 敏敬, 市原 英行, 井上 智生, 田村 秋雄, |
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| 抄録(和) | 大規模LSIのテストデータの増加が原因で生じる,テスト実行時間の増加やテスタメモリの不足などの問題を軽減するため,被テスト回路内部でテストデータを圧縮・展開する手法が期待されている.本論文では,テストデータ圧縮・展開手法で利用可能な,ハフマン符号を用いたテスト出力応答の圧縮手法を提案する.提案手法では,正常な出力応答ベクトルだけでなく,誤り出力応答ベクトルも対象として符号化を行うため,応答圧縮による故障の影響の消滅(エイリアシング)は起こらない.また,提案手法は回路構造や故障モデルに依存しておらず,与えたテスト入力集合に対応する正常テスト出力応答集合だけを利用して,テスト応答圧縮器が設計可能である.計算機実験により,提案手法におけるテスト出力応答集合の圧縮率および,圧縮に必要なハードウェアオーバーヘッドを調べ,本手法の効果について考察する. |
| 抄録(英) | Test compression / decompression is an efficient method for reducing the test application cost. In this paper we propose a response compression method using Huffman coding. The proposed method guarantees zero-aliasing because not only fault-free responses but also faulty responses are mapped into codewords. Moreover the method is independent of the fault model and the structure of a circuit-under-test, and uses only the knowledge of the fault free responses corresponding to a given test input set. Experimental results of compression ratio and the size of encoders by the proposed method are presented. |
| キーワード(和) | ハフマン符号 / テスト圧縮 / テスト応答圧縮 / テスト実行時間 / ATE |
| キーワード(英) | Huffman code / test compression / test response compression / test application time / ATE |
| 資料番号 | VLD2002-88 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2002/11/21(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Test Response Compression Using Huffman Coding |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ハフマン符号 / Huffman code |
| キーワード(2)（和/英） | テスト圧縮 / test compression |
| キーワード(3)（和/英） | テスト応答圧縮 / test response compression |
| キーワード(4)（和/英） | テスト実行時間 / test application time |
| キーワード(5)（和/英） | ATE / ATE |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 新谷 道広 / Michihiro SHINTANI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 広島市立大学 情報科学部 Faculty of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 小原 敏敬 / Toshihiro OHARA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 広島市立大学 情報科学部 Faculty of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 市原 英行 / Hideyuki ICHIHARA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 広島市立大学 情報科学部 Faculty of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 井上 智生 / Tomoo INOUE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 広島市立大学 情報科学部 Faculty of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 田村 秋雄 / Akio TAMURA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 広島市立大学 情報科学部 Faculty of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 発表年月日 | 2002/11/21 |
| 資料番号 | VLD2002-88 |
| 巻番号（vol） | vol.102 |
| 号番号（no） | 476 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |