講演名 2002/6/20
3次元VLSIにおける遺伝的アルゴリズムを用いた直線スタイナー問題
豊原 健一, 瀬尾 賢治, 大村 道郎,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) 近年の大規模集積回路における製造技術の進歩に伴い,3次元のMCMや,回路素子自体を3次元に集積化し,複数の能動層を持つ3次元VLSIに関する研究が注目されている.本稿では,3次元VLSIにおける配線長と半径を最小化する3次元の直線スタイナー木を遺伝的アルゴリズムによって求める手法を提案する.本手法ではまず任意の3次元座標を持った端子に対し,3次元のユークリッド最小全域木を求め,2点間をx軸,y軸,またはz軸に平行な線分の並びと置き換えることにより,3次元の直線スタイナー木を求める.本稿では提案するアルゴリズムと共に,性能評価のために行ったシミュレーション結果についても述べる。
抄録(英) With the advance of VLSI process technology, 3-D MCMs, and 3D VLSI, in which active layers are stacked, has been the focus of attention. In this paper, we propose a method that obtains a 3-D rectilinear Steiner tree that minimizes the total wire length and the radius in 3-D VLSI using genetic algorithms. In this method, we obtain a Euclidian minimum spanning tree for the terminals with 3-D coordinates, and then we obtain the 3-D rectilinear Steiner tree by replacing each pair of terminals in the tree with segments that are parallel to X, Y, or Z-axis. In this paper, we describe the proposed method and the simulation results.
キーワード(和) 遺伝的アルゴリズム / 3次元VLSI / 直線スタイナー木 / スパニング木
キーワード(英) genetic algorithm / 3-D VLSI / rectilinear Steiner tree / spanning tree
資料番号 VLD2002-30
発行日

研究会情報
研究会 VLD
開催期間 2002/6/20(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 VLSI Design Technologies (VLD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 3次元VLSIにおける遺伝的アルゴリズムを用いた直線スタイナー問題
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Rectilinear Steiner Problem Using Genetic Algorithms in 3-D VLSI
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 遺伝的アルゴリズム / genetic algorithm
キーワード(2)(和/英) 3次元VLSI / 3-D VLSI
キーワード(3)(和/英) 直線スタイナー木 / rectilinear Steiner tree
キーワード(4)(和/英) スパニング木 / spanning tree
第 1 著者 氏名(和/英) 豊原 健一 / Kenichi TOYOHARA
第 1 著者 所属(和/英) 広島工業大学工学部
Faculty of Engineering, Hiroshima Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 瀬尾 賢治 / Kenji SEO
第 2 著者 所属(和/英) 広島工業大学工学部
Faculty of Engineering, Hiroshima Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 大村 道郎 / Michiroh OHMURA
第 3 著者 所属(和/英) 広島工業大学工学部
Faculty of Engineering, Hiroshima Institute of Technology
発表年月日 2002/6/20
資料番号 VLD2002-30
巻番号(vol) vol.102
号番号(no) 164
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日