講演名 2004/9/3
集積回路のセキュリティ : 故障解析技術を用いた攻撃に対する耐性(II) : LSIの耐タンパー性向上技術(ディジタル・情報家電,放送用,ゲーム機器用システムLSI及び一般)
中島 蕃, 柴田 直, 山岸 篤弘, 松本 勉,
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抄録(和) 各種故障解析技術の特徴を踏まえ、LSIの縦方向の構造や配線などの平面的なレイアウトをどのようにすれば、LSIの中に隠されたセキュリティ情報を解読されにくくできるかについて述べる。発光解析に対してはチップ内部での発光が生じにくいデバイス構造およびバイアス条件の適用、電子ビームテスターなどによる動作波形測定に対しては信号配線に隣接してノイズ発生配線を配置する方法、赤外線レーザを用いた裏面からの各種解析に対しては基板中に高濃度不純物領域を形成する方法などがある。
抄録(英) Based on consideration for weak points of failure analysis techniques, vertical and horizontal structures which may increase tamparing immunity of the LSI are described. To prevent analysis using the emission microscopy, optimization of device structures and bias conditions for reducing internal electric field of MOSFETs is effective because only week light is emitted from MOSFET with low internal electric field. To prevent waveform measurement using non-contact testing methos such as electron beam testing, placement of noisy interconnections between signal lines is effective. To prevent analysis from backside, formation of highly doped layers in near upper part of silicon crystal is effective because infrared ray is absorbed in highly doped layers.
キーワード(和) 集積回路 / LSI / セキュリティ / 解読 / 耐タンパー性 / 故障解析
キーワード(英) integrated circuit / LSI / security / decription / tampering immunity / failure analysis
資料番号 ICD2004-106
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2004/9/3(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 集積回路のセキュリティ : 故障解析技術を用いた攻撃に対する耐性(II) : LSIの耐タンパー性向上技術(ディジタル・情報家電,放送用,ゲーム機器用システムLSI及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Security of Integrated Circuits: Immunity Against Tampering by Using Failure Analysis Techniques (II) : Process Technologies To Increase Tampering Immunity of LSIs
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 集積回路 / integrated circuit
キーワード(2)(和/英) LSI / LSI
キーワード(3)(和/英) セキュリティ / security
キーワード(4)(和/英) 解読 / decription
キーワード(5)(和/英) 耐タンパー性 / tampering immunity
キーワード(6)(和/英) 故障解析 / failure analysis
第 1 著者 氏名(和/英) 中島 蕃 / Shigeru NAKAJIMA
第 1 著者 所属(和/英) (株)ヴァン・パートナーズ
Van Partners Corpolation
第 2 著者 氏名(和/英) 柴田 直 / Tadashi SHIBATA
第 2 著者 所属(和/英) 東京大学新領域創成科学研究科
School of Frontier Sciences, University of Tokyo
第 3 著者 氏名(和/英) 山岸 篤弘 / Atsuhiro YAMAGISHI
第 3 著者 所属(和/英) 独立行政法人情報処理推進機構
Information-Technology Promotion Agency
第 4 著者 氏名(和/英) 松本 勉 / Tsutomu MATSMOTO
第 4 著者 所属(和/英) 横浜国立大学大学院環境情報研究院
Graduate School of Environment and Information Sciences, Yokohama National University
発表年月日 2004/9/3
資料番号 ICD2004-106
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 288
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日