| 講演名 | 2003/11/21 ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) 梶原 誠司, 土井 康稔, /, |
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| 抄録(和) | 本論文では,ランレングス符号化によるテストデータ量削減効率の向上手法を提案する.提案手法は,与えられたテストパターンに対して,故障検出率を低下させることなく値を1から0に変換できるビットを特定し,そのビット値を変換することで,長く連続する0を多く持つテストパターンに変換するものである.値を変換可能なビットはドントケア判定により求めるが,このとき変換するビットによって削減できるテストデータ量が異なることに注目する.論理値が1の各ビットについて,値を0に変換したときのランレングス符号化によるテストデータ量削減ビット数を前もって計算することにより,データ量削減効果の高いビットをピンポイントに指定する.そのビットが優先的にドントケアとなるようにテストパターンを変換し,テストデータ量削減に最適なテストパターンを求めることができる.ベンチマーク回路に対する実験では,提案手法によりテストデータ量を平均で55%削減できた. |
| 抄録(英) | This paper presents a pinpoint test set relaxation method for test compression that maximally derives the capability of a run-length encoding technique. Before encoding a given set of test patterns, we selectively relax some specified bits of the test patterns. By changing a specified bit with value 0 to a don't-care, two consecutive runs of Os in the test sequence can be concatenated into a longer run of 0, thereby facilitating run-length coding. This procedure retains the fault coverage of the test set. Since the increase in compression depends on the lengths of the two runs that are concatenated with each bit relaxation, by pre-computing the increase in compression, we pinpoint the bit positions with value 1, which when relaxed to don't-cares, will yield the most compression. In this way, the given test pattern set is appropriately modified as a preprocessing step before test compression. Experimental results for the ISCAS benchmark circuits show that the proposed method could reduce, on the average, test data volume by 55%. |
| キーワード(和) | ランレングス符号 / テストパターン変換 / ドントケア |
| キーワード(英) | run-length codes / test modification / don't-care |
| 資料番号 | ICD2003-145 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2003/11/21(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Combining Pinpoint Test Set Relaxation and Run-Length Codes for Reducing Test Data Volume |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ランレングス符号 / run-length codes |
| キーワード(2)（和/英） | テストパターン変換 / test modification |
| キーワード(3)（和/英） | ドントケア / don't-care |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Siji KAJIHARA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学 Kyushu Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 土井 康稔 / Yasumi DOI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学 Kyushu Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | / / Lei LI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | デューク大学 Duke University |
| 発表年月日 | 2003/11/21 |
| 資料番号 | ICD2003-145 |
| 巻番号（vol） | vol.103 |
| 号番号（no） | 478 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |