講演名 2003/8/14
1/f noiseのプロセス依存性 : 高性能アナログ回路の実現に向けて(VLSI回路, デバイス技術(高速, 低電圧, 低電力))
大黒 達也, 岡山 康則, 松澤 一也, 松永 健, 青木 伸俊, 小島 健嗣, 百瀬 寿代, 石丸 一成,
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抄録(和) アナログ回路に重要な1/f noiseのゲートオキシナイトライド膜、シンタープロセス及びSTIストレス依存性について議論する。
抄録(英) In this paper, dependence of 1/f noise on oxynitridation process, sinter process and STI stress will be discussed.
キーワード(和) 1-f noise / Analog-digital converter / VCO / Phase noise
キーワード(英) 1-f noise / Analog-digital converter / VCO / Phase noise
資料番号 SDM2003-128,ICD2003-6
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2003/8/14(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 1/f noiseのプロセス依存性 : 高性能アナログ回路の実現に向けて(VLSI回路, デバイス技術(高速, 低電圧, 低電力))
サブタイトル(和)
タイトル(英) Process dependence of 1/f noise : For realization of high performance analog circuits
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 1-f noise / 1-f noise
キーワード(2)(和/英) Analog-digital converter / Analog-digital converter
キーワード(3)(和/英) VCO / VCO
キーワード(4)(和/英) Phase noise / Phase noise
第 1 著者 氏名(和/英) 大黒 達也 / TATSUYA OHGURO
第 1 著者 所属(和/英) 東芝セミコンダクタ一社
TOSHIBA Corporation Semiconductor Company
第 2 著者 氏名(和/英) 岡山 康則 / YASUNORI OKAYAMA
第 2 著者 所属(和/英) 東芝セミコンダクタ一社
TOSHIBA Corporation Semiconductor Company
第 3 著者 氏名(和/英) 松澤 一也 / KAZUYA MATSUZAWA
第 3 著者 所属(和/英) 東芝LSI基盤技術ラボラトリー
TOSHIBA Corporation Advanced LSI Technology Laboratory
第 4 著者 氏名(和/英) 松永 健 / TAKESHI MATUNAGA
第 4 著者 所属(和/英) 東芝セミコンダクタ一社
TOSHIBA Corporation Semiconductor Company
第 5 著者 氏名(和/英) 青木 伸俊 / NOBUTOSHI AOKI
第 5 著者 所属(和/英) 東芝セミコンダクタ一社
TOSHIBA Corporation Semiconductor Company
第 6 著者 氏名(和/英) 小島 健嗣 / KENJI KOJIMA
第 6 著者 所属(和/英) 東芝セミコンダクタ一社
TOSHIBA Corporation Semiconductor Company
第 7 著者 氏名(和/英) 百瀬 寿代 / HISAYO MOMOSE
第 7 著者 所属(和/英) 東芝セミコンダクタ一社
TOSHIBA Corporation Semiconductor Company
第 8 著者 氏名(和/英) 石丸 一成 / KAZUNARI ISHIMARU
第 8 著者 所属(和/英) 東芝セミコンダクタ一社
TOSHIBA Corporation Semiconductor Company
発表年月日 2003/8/14
資料番号 SDM2003-128,ICD2003-6
巻番号(vol) vol.103
号番号(no) 261
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日