| 講演名 | 2002/5/17 シグナルインテグリティ評価用100-Gsa/sサンプリングオシロスコープマクロの設計と評価 高宮 真, 水野 正之, 中村 和之, |
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| 抄録(和) | LSI上のシグナルインテグリティ(波形品質の完全性)の評価を目的として、0.13-μmCMOSでサンプリングオシロスコープマクロの設計と評価を行った。位相補間を利用した小面積(23,600μm^2)のサンプリングクロック発生回路を内蔵することにより、測定方法が簡単になった上、サンプリングレートが100GSample/sの高精度測定を達成した。また、電荷分配を利用した新型サンプリングヘッドにより、測定電圧範囲を-0.3VからVdd+0.3Vに広げることに成功した。更に、マクロ自身の電源ノイズ、基板ノイズを低減するためにデカップリング容量を搭載することにより、測定結果の低ノイズ化に成功した。 |
| 抄録(英) | An on-chip 100-GHz-sampling-rate, 8-channel sampling oscilloscope for signal integrity checking has been developed with a 0.13-μm CMOS process. It contains a phase-interpolated sampling clock generator for 100GHz sampling rates, charge-sharing sampling heads for a wide -0.3V to Vdd+0.3V input range, and decoupling capacitors for noise-immune measurement. Supply noise and substrate noise are successfully measured by the macro. |
| キーワード(和) | シグナルインテグリティ / 電源ノイズ / サンプリング / オシロスコープ / デカップリング |
| キーワード(英) | Signal integrity / Supply noise / Sampling / Oscilloscope / Decoupling |
| 資料番号 | ICD2002-32 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2002/5/17(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | シグナルインテグリティ評価用100-Gsa/sサンプリングオシロスコープマクロの設計と評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A 100-GSa/s Sampling Oscilloscope Macro for Checking Signal Integrity in LSI |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | シグナルインテグリティ / Signal integrity |
| キーワード(2)（和/英） | 電源ノイズ / Supply noise |
| キーワード(3)（和/英） | サンプリング / Sampling |
| キーワード(4)（和/英） | オシロスコープ / Oscilloscope |
| キーワード(5)（和/英） | デカップリング / Decoupling |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 高宮 真 / Makoto TAKAMIYA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NEC シリコンシステム研究所 Silicon Systems Research Labs, NEC Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 水野 正之 / Masayuki MIZUNO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | NEC シリコンシステム研究所 Silicon Systems Research Labs, NEC Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 中村 和之 / Kazuyuki NAKAMURA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | NEC シリコンシステム研究所:(現)九州工業大学 マイクロ化総合技術センター Silicon Systems Research Labs, NEC Corporation:(Present address)Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2002/5/17 |
| 資料番号 | ICD2002-32 |
| 巻番号（vol） | vol.102 |
| 号番号（no） | 83 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |