講演名 2003/1/24
超高密度薄型基板を用いた高性能FCBGA
下戸 直典, 菊池 克, 本多 広一, 方 慶一郎, 馬場 和宏, 松井 孝二,
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抄録(和) 多ピンLSIパッケージの高性能化、高密度化、低コスト化を実現する超高密度薄型基板技術(Multi-Layer Thin-Substrate, MLTS)を用いた高性能FCBGA(Flip-Chip Ball Grid Array)を開発した。金属板上に高密度多層配線層をまず形成し、組立工程で金属板を除去し、高密度多層配線層を超薄型基板として適用しパッケージングすることが本技術の特徴である。今回、プロトタイプの試作検討により、高密度多層配線層の形成、良好なフリップチップ実装性、さらには優れたパッケージ信頼性などを実証した。
抄録(英) We developed a high-performance FCBGA (Flip-Chip Ball Grid Array) based on Multi-Layer Thin-Substrate (MLTS) Packaging Technology in order to meet the strong demand for high-density, high-performance, and low-cost LSI Packages. The important feature is that, only a high-density, high-performance multi-layer thin-substrate structure remains by removing a metal plate after mounting an LSl chip. We successfully developed a high-density FCBGA prototype based on ouf MLTS packaging technology. The prototype's excellent long-term reliability was also demonstrated through a series of tests conducted on it.
キーワード(和) フリップチップ / BGA / 多ピン / 高密度 / 多層敗戦 / パッケージ基板
キーワード(英) flip chip / BGA / high pin count / high density / multi layer / packaging substrate
資料番号 CPM2002-158,ICD2002-203
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2003/1/24(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 超高密度薄型基板を用いた高性能FCBGA
サブタイトル(和)
タイトル(英) High-Performance FCBGA based on Multi-Layer Thin-Substrate Packaging Technology
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) フリップチップ / flip chip
キーワード(2)(和/英) BGA / BGA
キーワード(3)(和/英) 多ピン / high pin count
キーワード(4)(和/英) 高密度 / high density
キーワード(5)(和/英) 多層敗戦 / multi layer
キーワード(6)(和/英) パッケージ基板 / packaging substrate
第 1 著者 氏名(和/英) 下戸 直典 / Tadanori SHIMOTO
第 1 著者 所属(和/英) 日本電気株式会社機能材料研究所
Functional Materials Research Laboratories, NEC Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 菊池 克 / Katsumi KIKUCHI
第 2 著者 所属(和/英) 日本電気株式会社機能材料研究所
Functional Materials Research Laboratories, NEC Corporation
第 3 著者 氏名(和/英) 本多 広一 / Hirokazu HONDA
第 3 著者 所属(和/英) NECエレクトロニクス株式会社実装技術事業部
Packaging and Testing Engineering Division, NEC Electronics Corporation
第 4 著者 氏名(和/英) 方 慶一郎 / Keiichiro KATA
第 4 著者 所属(和/英) NECエレクトロニクス株式会社実装技術事業部
Packaging and Testing Engineering Division, NEC Electronics Corporation
第 5 著者 氏名(和/英) 馬場 和宏 / Kazuhiro BABA
第 5 著者 所属(和/英) 日本電気株式会社機能材料研究所
Functional Materials Research Laboratories, NEC Corporation
第 6 著者 氏名(和/英) 松井 孝二 / Koji MATSUI
第 6 著者 所属(和/英) 日本電気株式会社機能材料研究所
Functional Materials Research Laboratories, NEC Corporation
発表年月日 2003/1/24
資料番号 CPM2002-158,ICD2002-203
巻番号(vol) vol.102
号番号(no) 623
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日