| 講演名 | 2004/5/14 確率微分方程式に基づくテスト労力依存型ソフトウェア信頼度成長モデル(セッション3 : ソフトウェアの信頼性,信頼性理論) 井上 真二, 山田 茂, |
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| 抄録(和) | ソフトウェア信頼度成長モデルは,ソフトウェアの信頼性を定量的に評価するための基盤技術の1つとして知られている.このモデルは,非同次ポアソン過程モデルに代表されるように,フォールト発見事象を離散伏態空間上において取り扱う場合が多い.一方,近年では,大規模ソフトウェアシステムに対する信頼性評価やソフトウェアの統計的品質管現技術への適用を目的として,フォールト発見事象を連続状態空間上で定義するような連続状態型ソフトウェア信頼度成長モデルが提案されている.本論文では,ソフトウェア信頼度成長過程に大きく影響を与える要因として知られているテスト労力に注目し,テスト工程において投入されたテスト労力量に依存した連続状態型ソフトウェア信頼度成長モデルについて議論する. |
| 抄録(英) | It is known that software reliability growth modeling is a fundamental technique to assess software reliability quantitatively. Most of the models treat a fault-detection phenomenon on a discrete-state space such as nonhomogeneous Poisson process models. In recent years, software reliability growth models on a continuous-state space have been proposed for the purpose of evaluating software reliability of large-scale software sytems and applying to statistical software quality management by using stochastic differential equations. In an actual software development, the amount of testing-effort expenditures is well-known as one of the most important factors being related to the software reliability growth process. In this paper, we develop a software reliability growth model on a continuous-state space by considering the amount of testing-effort expenditures in the testing phase of software development. |
| キーワード(和) | ソフトウェア信頼度 / 成長モデル / テスト労力 / ブラック・ショールズ過程 / Ito型確率微分方程式 / 適合性評価 / ソフトウェア信頼性評価尺度 |
| キーワード(英) | Software Reliability Growth Model / Testing-effort / Black-Scholes Process / Stochastic Differential / Equations of Ito Type / Goodness-of-fit / Software Reliability Assessment Measures |
| 資料番号 | |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 2004/5/14(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Reliability(R) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 確率微分方程式に基づくテスト労力依存型ソフトウェア信頼度成長モデル(セッション3 : ソフトウェアの信頼性,信頼性理論) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Testing-Effort Dependent Software Reliability Growth Modeling based on Stochastic Differential Equations |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトウェア信頼度 / Software Reliability Growth Model |
| キーワード(2)（和/英） | 成長モデル / Testing-effort |
| キーワード(3)（和/英） | テスト労力 / Black-Scholes Process |
| キーワード(4)（和/英） | ブラック・ショールズ過程 / Stochastic Differential |
| キーワード(5)（和/英） | Ito型確率微分方程式 / Equations of Ito Type |
| キーワード(6)（和/英） | 適合性評価 / Goodness-of-fit |
| キーワード(7)（和/英） | ソフトウェア信頼性評価尺度 / Software Reliability Assessment Measures |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 井上 真二 / Shinji INOUE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部 Faculty of Engineering, Tottori University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 山田 茂 / Shigeru YAMADA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部 Faculty of Engineering, Tottori University |
| 発表年月日 | 2004/5/14 |
| 資料番号 | |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | 72 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |