講演名 | 2003/11/7 SRAM EMS耐性についての一考察(電子部品の信頼性,信頼性一般) 河南 靖, 渡部 尚数, 田中 雅二, 和田 哲明, |
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抄録(和) | システムLSIの微細化・低電圧化・高速化に伴い、EMS耐性が低下する傾向にある。システムLSIの主要構成要素であるSRAMについてラディエーションプローブ法およびLSIテスターを用いた電源ラインノイズ法を用いてEMS耐性を評価した。今回、LSIテスターによる電源ラインノイズ法の有効性を示すとともに、評価したSRAMのEMS耐性を悪くしている要因が読み出し時のデータ転送系の不具合にある事が分かり、更なるEMS耐性向上の可能性を示すことができたので報告する。 |
抄録(英) | EMS immunity is a tendency to decrease with the advancement of LSI process technology We evaluated EMS immunity of SRAM that is a main composition element of System LSI, using Radiation Probe method and Power-line Noise method by LSI Test System. From this investigation, it is found that (1) the Power-line Noise method by LSI Test System is effective, (2) the cause of EMS phenomenon is in the data transfer circuits of SRAM in read mode, therefore this EMS immunity can improve further. |
キーワード(和) | システムLSI / SRAM / EMS |
キーワード(英) | System LSI / SRAM / EMS |
資料番号 | R2003-46 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | R |
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開催期間 | 2003/11/7(から1日開催) |
開催地(和) | |
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テーマ(和) | |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Reliability(R) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | SRAM EMS耐性についての一考察(電子部品の信頼性,信頼性一般) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Study of SRAM EMS Immunity |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | システムLSI / System LSI |
キーワード(2)(和/英) | SRAM / SRAM |
キーワード(3)(和/英) | EMS / EMS |
第 1 著者 氏名(和/英) | 河南 靖 / Yasushi KANNAN |
第 1 著者 所属(和/英) | 松下電器産業株式会社半導体社品質技術グループ Quality Engineering Group, Semiconductor Company, Matsushita Electric Industrial Co., LTD |
第 2 著者 氏名(和/英) | 渡部 尚数 / Hisakazu WATANABE |
第 2 著者 所属(和/英) | 松下電器産業株式会社半導体社品質技術グループ Quality Engineering Group, Semiconductor Company, Matsushita Electric Industrial Co., LTD |
第 3 著者 氏名(和/英) | 田中 雅二 / Masaji TANAKA |
第 3 著者 所属(和/英) | 松下電器産業株式会社半導体社品質技術グループ Quality Engineering Group, Semiconductor Company, Matsushita Electric Industrial Co., LTD |
第 4 著者 氏名(和/英) | 和田 哲明 / Tetsuaki WADA |
第 4 著者 所属(和/英) | 松下電器産業株式会社半導体社品質技術グループ Quality Engineering Group, Semiconductor Company, Matsushita Electric Industrial Co., LTD |
発表年月日 | 2003/11/7 |
資料番号 | R2003-46 |
巻番号(vol) | vol.103 |
号番号(no) | 432 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |