講演名 2003/2/14
圧着接続メカニズムに関する考察(<特集>機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
荻原 茂, 南 善則, 大谷 弘, 齋藤 寧,
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抄録(和) 本研究会において既報の2次元CAE解析での圧着接続メカニズムの検討を発展させ、3次元CAE解析による検討を行っている。3次元CAE解析を行うことにより、端子長手方向での接触圧力の分布、電線の長手方向への逃げ等を考慮に入れた解析が可能となり、より正確な接触荷重を求めることにより、接続信頼性検討の精度向上が見込まれる。本報告では、圧着部の3次元CAE解析による検討例について報告する。
抄録(英) We reported on study of crimps using 2D-CAE. We investigate crimps using 3D-CAE for higher accuracy CAE-Technology. We report on study of crimps using 3D-CAE.
キーワード(和) 圧着 / 接続信頼性 / CAE解析 / 3次元
キーワード(英) Crimps / Reliability / CAE / 3D
資料番号 R2002-68,EMD2002-101
発行日

研究会情報
研究会 R
開催期間 2003/2/14(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Reliability(R)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 圧着接続メカニズムに関する考察(<特集>機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Study of The Crimps
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 圧着 / Crimps
キーワード(2)(和/英) 接続信頼性 / Reliability
キーワード(3)(和/英) CAE解析 / CAE
キーワード(4)(和/英) 3次元 / 3D
第 1 著者 氏名(和/英) 荻原 茂 / Shigeru OGIHARA
第 1 著者 所属(和/英) 株式会社オートネットワーク技術研究所回路接続研究部
AutoNetworks Technologies, Ltd. Basic Technology R&D Department
第 2 著者 氏名(和/英) 南 善則 / Yoshinori MINAMI
第 2 著者 所属(和/英) 株式会社オートネットワーク技術研究所回路接続研究部
AutoNetworks Technologies, Ltd. Basic Technology R&D Department
第 3 著者 氏名(和/英) 大谷 弘 / Hiromu OHTANI
第 3 著者 所属(和/英) 株式会社オートネットワーク技術研究所回路接続研究部
AutoNetworks Technologies, Ltd. Basic Technology R&D Department
第 4 著者 氏名(和/英) 齋藤 寧 / Yasushi SAITOH
第 4 著者 所属(和/英) 株式会社オートネットワーク技術研究所回路接続研究部
AutoNetworks Technologies, Ltd. Basic Technology R&D Department
発表年月日 2003/2/14
資料番号 R2002-68,EMD2002-101
巻番号(vol) vol.102
号番号(no) 653
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日