| 講演名 | 2002/10/11 表示用高耐圧ドライバLSIにおけるシステムノイズ破壊解析と耐性評価方法の提案 福迫 真一, 石井 聡巳, 加藤 且宏, 木村 偉作夫, 福田 保裕, 日野原 邦夫, |
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| 抄録(和) | LCD、有機EL、PDPパネルなどの表示用ドライバLSIは、高電圧出力が要求されるため、ESDに対し非常に敏感となる高耐圧素子が使用されている。そのため、これらのLSIはESDS(静電気敏感性)デバイスとなることが多い。さらに、市場の立ち上がり時期にある有機ELパネルは、その構造上パネル素子容量が大きいため、パネル負荷充放電電流による障害の発生が懸念されている。そこで、今回有機ELパネル負荷充放電現象によるドライバLSI破壊現象のメカニズム解析結果及び強度評価方法検討を報告する。 |
| 抄録(英) | The driver LSI for a display, such as LCD, OLED, and PDP, use high-voltage process technology. Such driver LSI is an ESDS device in many cases. Therefore destruction by charge and discharge current of QEL element capacitance is been anxious. The mechanism analysis result of a driver LSI destructive phenomenon and the evaluation method examination are reported. |
| キーワード(和) | 有機EL / 表示用ドライバ / LSI |
| キーワード(英) | OLED / Driver for display / LSI |
| 資料番号 | R2002-28 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 2002/10/11(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Reliability(R) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 表示用高耐圧ドライバLSIにおけるシステムノイズ破壊解析と耐性評価方法の提案 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | The Simulated Method Proposal and Analysis for Breakdown Phenomena by Operation Noise on Display System High Voltage LSI Devices. |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 有機EL / OLED |
| キーワード(2)（和/英） | 表示用ドライバ / Driver for display |
| キーワード(3)（和/英） | LSI / LSI |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 福迫 真一 / Shinichi Fukuzako |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 沖電気工業株式会社 シリコンソリューションカンパニーデザイン本部ASSP設計部 LSI Design Division, Silicon Solutions Company Oki Electric Industry Co., Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 石井 聡巳 / Satoshi Ishii |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 沖電気工業株式会社 シリコンソリューションカンパニー生産本部デバイス技術部 Production Division, Silicon Solutions Company Oki Electric Industry Co., Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 加藤 且宏 / Katsuhiro Kato |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 沖電気工業株式会社 シリコンソリューションカンパニー研究本部SOI商品開発部 System LSI Research Division, Silicon Solutions Company Oki Electric Industry Co., Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 木村 偉作夫 / Isao Kimura |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 沖電気工業株式会社 シリコンソリューションカンパニー生産本部デバイス技術部 Production Division, Silicon Solutions Company Oki Electric Industry Co., Ltd. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 福田 保裕 / Yasuhiro Fukuda |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 沖電気工業株式会社 シリコンソリューションカンパニー研究本部SOI商品開発部 System LSI Research Division, Silicon Solutions Company Oki Electric Industry Co., Ltd. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 日野原 邦夫 / Kunio Hinohara |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 沖電気工業株式会社 シリコンソリューションカンパニーデザイン本部ASSP設計部 LSI Design Division,Silicon Solutions Company Oki Electric Industry Co., Ltd. |
| 発表年月日 | 2002/10/11 |
| 資料番号 | R2002-28 |
| 巻番号（vol） | vol.102 |
| 号番号（no） | 383 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
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