講演名 2004/7/23
マイクロストリップ線路の屈曲部に対する電磁放射のTDR解析(回路EMC/一般)
王 建青, 藤原 修,
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抄録(和) マイクロストリップ線路はディジタル機器のプリント回路基板に多用されるが,線路の屈曲部が不要電磁放射の原因の一つとされる.本稿では,時間領域で線路不連続点の抽出が容易なTDR(Time Domain Reflectometry)の特徴に注目し,マイクロストリップ線路の屈曲部に対するTDR解析を行い,屈曲部からの電磁放射特性の解明を試みた.その結果,屈曲部のアドミダンスを考慮することで,そのコンダクタンス成分から1GHzまでの放射特性が大まかに推定できること,また屈曲角の増大と共に屈曲部からの放射レベルも増大すること,などがわかった.これらの知見の妥当性は周波数領域でのSパラメータ測定結果との比較で検証できた.
抄録(英) Discontinuity such as bends in a micro-strip line is known as one of major radiation sources. The total radiation from the micro-strip line is, however, being generally investigated because of the difficulties in identifying the radiation from some specific location. In this paper, paying attention to the feature of TDR (Time-Domain Reflectometry) measurement, we made an attempt to extract the radiation only from the bend in a micro-strip line. Such an approach is useful in understanding its radiation mechanism. As a result, we found that the larger the bend angle is, the larger the radiation power becomes. The radiation power achieved 4% at maximum when the bending angle was 90° at the frequencies below 1 GHz. We also examined the validity of the TDR analysis by spectrum analyzer measurement. We obtained the radiation power versus frequency from the measured scattering parameters, which exhibited a similar trend to the TDR result.
キーワード(和) TDR / マイクロストリップ線路 / 屈曲部 / 電磁放射
キーワード(英) TDR / micro-strip line / bend / radiation
資料番号 EMCJ2004-49
発行日

研究会情報
研究会 EMCJ
開催期間 2004/7/23(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromagnetic Compatibility (EMCJ)
本文の言語 JPN
タイトル(和) マイクロストリップ線路の屈曲部に対する電磁放射のTDR解析(回路EMC/一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) TDR Analysis of Electromagnetic Radiation from Bends of Micro-Strip Lines
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) TDR / TDR
キーワード(2)(和/英) マイクロストリップ線路 / micro-strip line
キーワード(3)(和/英) 屈曲部 / bend
キーワード(4)(和/英) 電磁放射 / radiation
第 1 著者 氏名(和/英) 王 建青 / Jianqing WANG
第 1 著者 所属(和/英) 名古屋工業大学大学院情報工学専攻
Graduate School of Engineering, Nagoya Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 藤原 修 / Osamu FUJIWARA
第 2 著者 所属(和/英) 名古屋工業大学大学院情報工学専攻
Graduate School of Engineering, Nagoya Institute of Technology
発表年月日 2004/7/23
資料番号 EMCJ2004-49
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 232
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日