| 講演名 | 2002/11/22 方形導波管と誘電体チューブを用いた液体材料の複素誘電率測定における貫通孔の影響 上田 直紀, 栗山 有美, 西方 敦博, 福永 香, 渡辺 聡一, 山中 幸雄, |
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| 抄録(和) | 先に報告した方形導波管を貫通する誘電体チューブを用いる液体ファントム材料の複素誘電率測定法に関して、誘電体チューブの貫通孔が測定値に与える影響を、脱イオン水の測定結果の比較により検討した。誘電体チューブには、継ぎ目のない誘電体製のもの、両端を金属チューブに接合したもの、さらにその接合面において金属チューブの端部を閉じピンホールを設けたもの、の3種類の構造を用いて比較を行った。また、比較のために導波管Sパラメータ法の測定系を構築し、同じ条件下で脱イオン水の測定を行い比較した。その結果、誘電体チューブの構造が解析モデルに近いほど、Sパラメータ法による測定結果に近づくことを確認した。また、貫通孔が大きいほど、複素比誘電率の実部、虚部ともに値が低く出ることを示した。 |
| 抄録(英) | On the previously reported complex permittivity measurement method for the liquid phantom material using a dielectric tube piercing a rectangular waveguide, we study the influence of through hole of dielectric tube by comparing measurement results of deionized water. In this comparison, three types of dielectric tubes are used. The first one is fully made of dielectric material, the second is a dielectric tube joined with metal tubes on both ends, and the third is the one joined with metal pin-hole tubes on both ends. Besides, we built another measurement system based on waveguide S-parameter method to compare measured results of deionized water under the same condition. The experimental result shows that the proposed method gives the complex permittivity of deionized water closer to that measured by the waveguide S-parameter method, when the tube structure is closer to that of analysis model. It is also shown that both the real and imaginary parts of relative complex permittivity get smaller as the through hole becomes large. |
| キーワード(和) | 液体ファントム / 複素比誘電率 / 方形導波管 / 誘電体チューブ / Sパラメータ法 |
| キーワード(英) | Liquid phantom / Relative complex permittivity / Rectangular waveguide / Dielectric tube / S-parameter method. |
| 資料番号 | EMCJ2002-80 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
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| 開催期間 | 2002/11/22(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromagnetic Compatibility (EMCJ) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 方形導波管と誘電体チューブを用いた液体材料の複素誘電率測定における貫通孔の影響 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Influence of Through Hole on Liquid Material's Complex Permittivity Measurement Using a Rectangular Waveguide and a Dielectric Tube |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 液体ファントム / Liquid phantom |
| キーワード(2)（和/英） | 複素比誘電率 / Relative complex permittivity |
| キーワード(3)（和/英） | 方形導波管 / Rectangular waveguide |
| キーワード(4)（和/英） | 誘電体チューブ / Dielectric tube |
| キーワード(5)（和/英） | Sパラメータ法 / S-parameter method. |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 上田 直紀 / Naoki UEDA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京工業大学 Tokyo Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 栗山 有美 / Yumi KURIYAMA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京工業大学 Tokyo Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 西方 敦博 / Atsuhiro NISHIKATA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京工業大学 Tokyo Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 福永 香 / Kaori FUKUNAGA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 独立行政法人通信総合研究所 Communications Research Laboratory |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 渡辺 聡一 / So-ichi WATANABE |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 独立行政法人通信総合研究所 Communications Research Laboratory |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 山中 幸雄 / Yukio YAMANAKA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 独立行政法人通信総合研究所 Communications Research Laboratory |
| 発表年月日 | 2002/11/22 |
| 資料番号 | EMCJ2002-80 |
| 巻番号（vol） | vol.102 |
| 号番号（no） | 488 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |