| 講演名 | 2002/11/22 ビーム集束型ホーンアンテナを用いたフリースペース法電子材料測定システム 戸高 嘉彦, 近藤 昭治, 橋本 修, |
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| 抄録(和) | 板状試料の複素誘電率、複素透磁率を効率よく測定する手段として、フリースペース・S-パラメータ法が用いられる。しかし一般的に,アンテナを使用したフリースペースは,サンプルホルダを使用した場合に比べて測定誤差が大きくなることが懸念される。このたび高精度アンテナ・ポジショナ,誘電体レンズ付きホーンアンテナを開発し,フリースペース法において板状誘電体試料を高確度で測定できることを確認した。 |
| 抄録(英) | We developed a Free-Space Material Measurement system in the millimeter wave bands using a beam focusing antenna pair. A precise antenna displacement mechanism, which is used in the TRL calibration process, rather makes it possible to provide a higher measurement accuracy than the system using coaxial air line type sample holders in the microwave bands. In the measurement process, application of the time gate processing is inevitable to avoid effects of multiple reflection due to the impedance mismatch of junction points such as coaxial to waveguide transducers, rectangular to circular waveguide transducers,lens surfaces etc. |
| キーワード(和) | 誘電率 / 透磁率 / 誘電体レンズ / Sパラメータ法 / フリースペース法 / タイムドメインゲーティング |
| キーワード(英) | Permittivity / Permeability / Beam focusing antenna / S-parameter method / Free space method / Time domain gating |
| 資料番号 | EMCJ2002-79 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
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| 開催期間 | 2002/11/22(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromagnetic Compatibility (EMCJ) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ビーム集束型ホーンアンテナを用いたフリースペース法電子材料測定システム |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Material Measurement System Using Free-Space Method with a Beam Focusing Antenna Pair |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 誘電率 / Permittivity |
| キーワード(2)（和/英） | 透磁率 / Permeability |
| キーワード(3)（和/英） | 誘電体レンズ / Beam focusing antenna |
| キーワード(4)（和/英） | Sパラメータ法 / S-parameter method |
| キーワード(5)（和/英） | フリースペース法 / Free space method |
| キーワード(6)（和/英） | タイムドメインゲーティング / Time domain gating |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 戸高 嘉彦 / Yoshihiko TODAKA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | アジレント・テクノロジー株式会社 Agilent Technologies, Japan |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 近藤 昭治 / Shoji KONDO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 関東電子応用開発株式会社 Kanto Electronics Application & Co, ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 橋本 修 / Osamu HASHIMOTO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 青山学院大学理工学部 Aoyama-Gakuin University |
| 発表年月日 | 2002/11/22 |
| 資料番号 | EMCJ2002-79 |
| 巻番号（vol） | vol.102 |
| 号番号（no） | 488 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | |